詳細(xì)摘要： 薄膜應(yīng)力測(cè)量?jī)xTohoFLX提供熱循環(huán)和環(huán)境自動(dòng)旋轉(zhuǎn)型號(hào),可對(duì)各種薄膜和襯底進(jìn)行準(zhǔn)確的應(yīng)力測(cè)量,確定和分析沉積薄膜引起的表面應(yīng)力
產(chǎn)品型號(hào)：FPTOH-FLX所在地：更新時(shí)間：2023-09-12 在線留言孚光精儀（中國(guó)）有限公司
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孚光精儀（中國(guó)）有限公司
詳細(xì)摘要： 薄膜應(yīng)力測(cè)量?jī)xTohoFLX提供熱循環(huán)和環(huán)境自動(dòng)旋轉(zhuǎn)型號(hào),可對(duì)各種薄膜和襯底進(jìn)行準(zhǔn)確的應(yīng)力測(cè)量,確定和分析沉積薄膜引起的表面應(yīng)力
產(chǎn)品型號(hào)：FPTOH-FLX所在地：更新時(shí)間：2023-09-12 在線留言
詳細(xì)摘要： 3D光學(xué)輪廓儀是具有白光干涉和相移干涉技術(shù)的表面形貌儀,具有高掃描速度,垂直分辨率高達(dá)亞納米0.1nm,從而具有三維臺(tái)階儀功能
產(chǎn)品型號(hào)：FPNAN-NV所在地：更新時(shí)間：2023-09-12 在線留言
詳細(xì)摘要： 形貌輪廓激光顯微鏡是采用激光顯微鏡技術(shù)的表面輪廓形貌儀器,具有白光共聚焦,激光共聚焦,差分干涉對(duì)比,白光干涉,相移干涉法和光譜反射薄膜厚度測(cè)量6種表面形貌輪廓測(cè)...
產(chǎn)品型號(hào)：FPLAS-Hybrid所在地：更新時(shí)間：2023-09-12 在線留言
詳細(xì)摘要： 這款多功能掃描探針顯微鏡SPM是歐盟革命性的高分辨率掃描探針顯微鏡和SPM顯微鏡,具有目前為緊湊結(jié)構(gòu),是進(jìn)口掃描探針顯微鏡品牌,SPM顯微鏡品牌中掃描探針顯微鏡...
產(chǎn)品型號(hào)：FPAPE-SPM所在地：更新時(shí)間：2023-04-13 在線留言
詳細(xì)摘要： 這款原子力顯微鏡AFM,AtomicForceMicroscope具有SPM顯微鏡模式，是進(jìn)口高精度原子力顯微鏡品牌中原子的AFM顯微鏡產(chǎn)品
產(chǎn)品型號(hào)：FPAPE-AFM-A100所在地：更新時(shí)間：2023-04-13 在線留言
詳細(xì)摘要： 這款緊湊掃描隧道顯微鏡STM是探索不同材料表面以原子尺度分辨率測(cè)試納米表面形貌和光譜信息的有力STM顯微鏡工具
產(chǎn)品型號(hào)：FPAPE-STM所在地：更新時(shí)間：2023-04-13 在線留言
詳細(xì)摘要： 高速原子力顯微鏡是專業(yè)為科研單位設(shè)計(jì)的經(jīng)濟(jì)型多功能AFM顯微鏡,它適合所有應(yīng)用并給出磁力顯微鏡模式,電力顯微鏡模式,納米光刻模式,彈性力顯微鏡模式等*功能,在進(jìn)...
產(chǎn)品型號(hào)：FPANF-LevelAFM所在地：更新時(shí)間：2023-04-13 在線留言
詳細(xì)摘要： LCD驅(qū)動(dòng)芯片檢測(cè)系統(tǒng)和LCD驅(qū)動(dòng)芯片視覺(jué)檢測(cè)系統(tǒng)快速發(fā)現(xiàn)LCDDriverIC缺陷，由孚光精儀進(jìn)口銷售，孚光精儀的進(jìn)口光學(xué)精密儀器旗艦型服務(wù)商！精通光學(xué)，服務(wù)...
產(chǎn)品型號(hào)：LCD-AVI所在地：更新時(shí)間：2023-04-01 在線留言
詳細(xì)摘要： 光學(xué)鍍膜檢測(cè)儀PHOTONRTUV-VIS-MWIR是為光學(xué)鍍膜分析檢測(cè)設(shè)計(jì)的鍍膜掃描分光光度計(jì),滿足光學(xué)樣品的無(wú)人值守薄膜測(cè)量
產(chǎn)品型號(hào)：FPESS-Photon RT所在地：更新時(shí)間：2023-03-30 在線留言
詳細(xì)摘要： 晶圓光致發(fā)光和缺陷檢測(cè)系統(tǒng)Imperia系統(tǒng)可檢測(cè)并分類晶圓缺陷,實(shí)現(xiàn)光致發(fā)光（PL）生產(chǎn)監(jiān)控
產(chǎn)品型號(hào)：FPONT-Imperia所在地：更新時(shí)間：2023-03-30 在線留言
詳細(xì)摘要： 全波段光致發(fā)光測(cè)量系統(tǒng)RPMBlue系統(tǒng)是為半導(dǎo)體化合物襯底晶圓光致發(fā)光檢測(cè)而涉及,在整個(gè)波長(zhǎng)范圍內(nèi)提供準(zhǔn)確的PL光譜mapping計(jì)量,可用于GaNFET和U...
產(chǎn)品型號(hào)：FPONT-RPMBlue所在地：更新時(shí)間：2023-03-30 在線留言
詳細(xì)摘要： 這款晶圓測(cè)厚儀MX30x是為半導(dǎo)體晶圓特性測(cè)量設(shè)計(jì)的進(jìn)口晶圓厚度測(cè)量?jī)x器,可快速測(cè)量晶圓厚度,晶圓電阻率和晶圓P/N等值
產(chǎn)品型號(hào)：FPEH-metrology所在地：更新時(shí)間：2023-03-30 在線留言
詳細(xì)摘要： 高分辨率晶圓厚度和厚度變化測(cè)量?jī)xMX10x系列是E+Hmetrology測(cè)量硅片厚度和TTV厚度變化的儀器
產(chǎn)品型號(hào)：FPEH-MX10x所在地：更新時(shí)間：2023-03-30 在線留言
詳細(xì)摘要： 這款多功能晶圓翹曲度測(cè)量?jī)x是為晶圓生產(chǎn)線上自動(dòng)晶圓翹曲度測(cè)量設(shè)計(jì)的大型自動(dòng)晶圓測(cè)量?jī)x器,具有晶圓厚度測(cè)量,晶圓翹曲度測(cè)量,晶圓BOW/WARP測(cè)量,晶圓wave...
產(chǎn)品型號(hào)：FPEH-MX70X所在地：更新時(shí)間：2023-03-30 在線留言
詳細(xì)摘要： 晶圓分揀機(jī)器人是為大尺寸晶圓硅片分揀分選設(shè)計(jì)的自動(dòng)晶圓分揀機(jī)系統(tǒng)，可分選高達(dá)12尺寸晶圓
產(chǎn)品型號(hào)：FPEH-Robot Sorter所在地：更新時(shí)間：2023-03-30 在線留言
詳細(xì)摘要： 帶式晶圓分選機(jī)beltsorter是專業(yè)為晶圓硅片分選設(shè)計(jì)的皮帶式晶圓硅片分選機(jī),可適合8晶圓分選分揀,非常適合晶圓硅片的生產(chǎn)測(cè)試
產(chǎn)品型號(hào)：FPEH+beltsorter所在地：更新時(shí)間：2023-03-30 在線留言
詳細(xì)摘要： 開爾文探針系統(tǒng)KelvinProbe可用于光電化學(xué)中,精確測(cè)量不同半導(dǎo)體和導(dǎo)電材料的功函數(shù)，精度高
產(chǎn)品型號(hào)：FPPRI-Kelvin Probe所在地：更新時(shí)間：2023-03-30 在線留言
詳細(xì)摘要： 微操作儀系統(tǒng)AxisProFC是為各種實(shí)驗(yàn)微操作設(shè)計(jì)的微納操作儀器,電控制所有操作
產(chǎn)品型號(hào)：FPMIC-Axis-Pro-FC所在地：更新時(shí)間：2023-03-30 在線留言
詳細(xì)摘要： 半自動(dòng)高低溫探針臺(tái)采用signatone探針臺(tái)技術(shù)實(shí)現(xiàn)300mm尺寸晶圓探針臺(tái)測(cè)試,屬于半自動(dòng)RF/DC/CV測(cè)試高功率探針臺(tái)
產(chǎn)品型號(hào)：FPSIG-WL-350-LE所在地：更新時(shí)間：2023-03-03 在線留言
詳細(xì)摘要： 大型自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)系統(tǒng)AOI是為14晶圓光學(xué)檢測(cè)設(shè)計(jì)的自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)機(jī)器,非常適合微電子與半導(dǎo)體檢測(cè),自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)晶圓、芯片、引線鍵合等
產(chǎn)品型號(hào)：FPMVP-MVP900所在地：更新時(shí)間：2023-03-03 在線留言您感興趣的產(chǎn)品PRODUCTS YOU ARE INTERESTED IN
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