中国不卡黄拍,情色手机在线一区二区

當(dāng)前位置：孚光精儀（中國(guó)）有限公司>>產(chǎn)品展示>>光學(xué)測(cè)量系列

產(chǎn)品分類 品牌分類

  光學(xué)測(cè)量系列

全部產(chǎn)品列表

暫無(wú)信息

孚光精儀（中國(guó)）有限公司

經(jīng)營(yíng)模式：經(jīng)銷商

商鋪產(chǎn)品：1482條

所在地區(qū)：

聯(lián)系人：陳小姐（銷售）

詢價(jià) 給他留言

掃描電鏡探測(cè)器

詳細(xì)摘要：這種掃描電鏡探測(cè)器的BSE探測(cè)器或背散射電子探測(cè)器，為掃描電子顯微鏡提供的信噪比和超高的分辨率，是SEM探測(cè)器中的產(chǎn)品
產(chǎn)品型號(hào)：FPCRY-sem-detector所在地：更新時(shí)間：2021-08-19 在線留言
納米硬度計(jì)

詳細(xì)摘要：我們的納米硬度計(jì)是進(jìn)口納米硬度測(cè)試儀和納米硬度測(cè)量?jī)x,通過(guò)掃描材料表面實(shí)現(xiàn)對(duì)材料力學(xué)性能的納米尺度的高精度測(cè)量，精確測(cè)量納米硬度，彈性模量，楊氏模量等材料力學(xué)性...
產(chǎn)品型號(hào)：FPNAN-4Dcom所在地：更新時(shí)間：2021-08-19 在線留言
手動(dòng)多功能微型探針臺(tái)

詳細(xì)摘要：手動(dòng)多功能微型探針臺(tái)是一款手動(dòng)多功能探針臺(tái)，可用于4晶圓或4x6.5印刷電路板
產(chǎn)品型號(hào)：FPd-coax-W4.0x L6.5所在地：更新時(shí)間：2021-08-19 在線留言
大型科研級(jí)手動(dòng)探針臺(tái)

詳細(xì)摘要：這款科研級(jí)大型手動(dòng)探針臺(tái)一款專為半導(dǎo)體領(lǐng)域設(shè)計(jì)的大型晶圓探針臺(tái)，它可用于高達(dá)14半導(dǎo)體晶圓的測(cè)量，并在范圍內(nèi)實(shí)現(xiàn)XYZ，theta多維控制
產(chǎn)品型號(hào)：FPDCO-D14所在地：更新時(shí)間：2021-08-19 在線留言
緊湊手動(dòng)探針臺(tái)

詳細(xì)摘要：這款緊湊手動(dòng)探針臺(tái)繼承了諸多探針臺(tái)品牌的優(yōu)點(diǎn)，以超級(jí)緊湊的結(jié)構(gòu)為用戶提供操作簡(jiǎn)單,功能*較低手動(dòng)探針臺(tái)價(jià)格解決方案
產(chǎn)品型號(hào)：FPMIL-2008所在地：更新時(shí)間：2021-08-19 在線留言
探針臺(tái)定位器

詳細(xì)摘要：這款探針臺(tái)定位器專業(yè)為探針臺(tái)定位應(yīng)用而設(shè)計(jì)的高精度探針定位器或探針臺(tái)微操作器,也可用于其它精密光電儀器高精度定位
產(chǎn)品型號(hào)：FPMRC-EB-700所在地：更新時(shí)間：2021-08-19 在線留言
掃描近場(chǎng)光學(xué)顯微鏡

詳細(xì)摘要：這款掃描近場(chǎng)光學(xué)顯微鏡SNOM融合了的掃描探針技術(shù)和光學(xué)顯微鏡技術(shù)，它把微型光學(xué)探針?lè)浅＝咏牧蠘悠繁砻?，?shí)現(xiàn)近場(chǎng)成像，獲得光學(xué)信息后提供的圖像分辨率可達(dá)100...
產(chǎn)品型號(hào)：FPAPE-SNOM所在地：更新時(shí)間：2021-08-19 在線留言
多功能翹曲度測(cè)量?jī)x

詳細(xì)摘要：翹曲度測(cè)量?jī)x是孚光精儀公司進(jìn)口的翹曲度檢測(cè)儀器，一套翹曲度測(cè)試儀器可以測(cè)量：熱沉,晶圓(wafer),太陽(yáng)能電池和硅片翹曲度,應(yīng)力以及表面形貌
產(chǎn)品型號(hào)：FPZEP-BOW所在地：更新時(shí)間：2021-08-19 在線留言
掃描開(kāi)爾文探針系統(tǒng)

詳細(xì)摘要：大面積掃描開(kāi)爾文探針系統(tǒng)能夠在垂直方向移動(dòng)開(kāi)爾文探針實(shí)現(xiàn)電動(dòng)控制開(kāi)爾文探針與樣品的距離
產(chǎn)品型號(hào)：FPANF-AFT-KP150所在地：更新時(shí)間：2021-08-19 在線留言
單點(diǎn)開(kāi)爾文掃描探針系統(tǒng)

詳細(xì)摘要：這款單點(diǎn)開(kāi)爾文探針系統(tǒng)用于室溫條件和普通實(shí)驗(yàn)室條件下的開(kāi)爾文掃描探針系統(tǒng),KelvinProbeSystem.它具有極為緊湊結(jié)構(gòu)，可安放到各種環(huán)境箱或防塵罩中
產(chǎn)品型號(hào)：FPANF-Kelvin所在地：更新時(shí)間：2021-08-19 在線留言
自動(dòng)光譜橢偏儀

詳細(xì)摘要：這款自動(dòng)光譜橢偏儀M300是一種自動(dòng)變角光譜橢偏儀和深紫外光譜橢偏儀,具有250-1100nm的波長(zhǎng)范圍，并具有自動(dòng)改變?nèi)肷浣堑墓δ?
產(chǎn)品型號(hào)：FPANG-SE200BA-M300所在地：更新時(shí)間：2021-08-19 在線留言
反射式光譜橢偏儀

詳細(xì)摘要：這款反射式光譜橢偏儀MSP具有250-1000nm的波長(zhǎng)范圍，可與顯微分光光度計(jì)聯(lián)合使用，測(cè)量極小斑點(diǎn)的薄膜厚度和折射率，可廣泛用于MEMS，半導(dǎo)體晶圓等領(lǐng)域,...
產(chǎn)品型號(hào)：FPANG-SE200BA-MSP所在地：更新時(shí)間：2021-08-19 在線留言
手動(dòng)光譜橢偏儀

詳細(xì)摘要：這款手動(dòng)光譜橢偏儀是一種手動(dòng)變角光譜橢偏儀和深紫外光譜橢偏儀,具有250-1100nm的波長(zhǎng)范圍，手動(dòng)改變?nèi)肷浣?
產(chǎn)品型號(hào)：FPANG-SE200BM-M300所在地：更新時(shí)間：2021-08-19 在線留言
大型光譜橢偏儀

詳細(xì)摘要：這款大型光譜橢偏儀SE200BM-M450具有450mm直徑樣品臺(tái)，提供更為安全的樣品操作和定位，具有250-850nm的波長(zhǎng)范圍，是美國(guó)Angstrom公司為...
產(chǎn)品型號(hào)：FPANG-SE200BE-M450所在地：更新時(shí)間：2021-08-19 在線留言
光伏太陽(yáng)能光譜橢偏儀

詳細(xì)摘要：這款光伏太陽(yáng)能光譜橢偏儀專業(yè)為光伏太陽(yáng)能領(lǐng)域的薄膜測(cè)量而開(kāi)的手動(dòng)光伏橢偏儀，這款光伏太陽(yáng)能光譜橢偏儀為光伏薄膜測(cè)量研究提供便利，具有實(shí)時(shí)測(cè)量薄膜厚度和薄膜厚度繪...
產(chǎn)品型號(hào)：FPANG-SE200BE-solar所在地：更新時(shí)間：2021-08-19 在線留言
手動(dòng)光譜橢偏儀

詳細(xì)摘要：這款手動(dòng)低價(jià)光譜橢偏儀是高性價(jià)比手動(dòng)橢偏儀,它采用手動(dòng)改變測(cè)角計(jì)入射角技術(shù),相比于自動(dòng)改變?nèi)肷浣堑淖詣?dòng)光譜橢偏儀價(jià)格更低
產(chǎn)品型號(hào)：FPANG-SE300BE所在地：更新時(shí)間：2021-08-19 在線留言
自動(dòng)光譜橢偏儀

詳細(xì)摘要：這款高級(jí)自動(dòng)光譜橢偏儀是自動(dòng)變角橢偏儀,能夠自動(dòng)改變測(cè)角計(jì)入射角的spectroscopicellipsometer,角度改變步進(jìn)高達(dá)0.01度，光譜范圍覆蓋2...
產(chǎn)品型號(hào)：FPANG-SE500BA所在地：更新時(shí)間：2021-08-19 在線留言
顯微薄膜測(cè)量?jī)x

詳細(xì)摘要：這款顯微薄膜測(cè)量?jī)x是一款多功能薄膜測(cè)厚儀和顯微分光光度計(jì)，可以結(jié)合顯微鏡測(cè)量薄膜吸收率,測(cè)量薄膜透過(guò)率,測(cè)量薄膜反射率以及測(cè)量薄膜熒光
產(chǎn)品型號(hào)：FRANG-MSP300所在地：更新時(shí)間：2021-08-19 在線留言
寬帶光學(xué)薄膜測(cè)厚儀

詳細(xì)摘要：這款寬帶光學(xué)薄膜測(cè)厚儀是一款低價(jià)臺(tái)式光學(xué)薄膜厚度測(cè)量?jī)x,可測(cè)量薄膜厚度,測(cè)量薄膜吸收率,測(cè)量薄膜透過(guò)率,測(cè)量薄膜反射率,測(cè)量薄膜熒光等，這款寬帶光學(xué)薄膜厚度測(cè)量...
產(chǎn)品型號(hào)：FRANG-SR500所在地：更新時(shí)間：2021-08-19 在線留言
薄膜厚度均勻性測(cè)量?jī)x

詳細(xì)摘要：這款薄膜厚度均勻性測(cè)量?jī)x采用光譜反射計(jì)技術(shù)測(cè)量整個(gè)樣品薄膜面積的薄膜厚度和薄膜折射率等參數(shù)，獲得整面薄膜厚度分布和薄膜厚度均勻性參數(shù)
產(chǎn)品型號(hào)：FPANG-SRM100所在地：更新時(shí)間：2021-08-19 在線留言