詳細摘要： 在線測量的解決方案使用F32可以簡單快速地在線測量膜厚
產(chǎn)品型號：所在地：上海更新時間：2026-07-20 在線留言岱美儀器技術(shù)服務(wù)（上海）有限公司
岱美儀器技術(shù)服務(wù)（上海）有限公司
詳細摘要： 1、簡述FR-InLine是一款模塊化可擴展的在線薄膜厚度測量儀（膜厚儀），可進行在線非接觸測量3nm-1mm厚度范圍內(nèi)的涂層
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詳細摘要： FR-Scanner厚度測量視頻Thetametrisis膜厚儀FR-Scanner是一種緊湊的臺式工具，適用于自動測繪晶圓片上的涂層厚度
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詳細摘要： 膜厚儀FR-Mic是一款快速、準確測量薄膜表征應(yīng)用的模塊化解決方案，可以將光斑縮小到幾個微米，進而分析微小區(qū)域或者粗糙表面薄膜特征
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詳細摘要： 產(chǎn)品簡介：FR-Scanner-AllInOne-Mic-XY300模塊化厚度測繪系統(tǒng)集成了光學(xué)、電子和機械模塊，可兼用于對無圖形和圖形薄膜（例如微圖形表面、粗...
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詳細摘要： 1、簡述FR-InLine是一款模塊化可擴展的在線薄膜厚度測量儀（膜厚儀），可進行在線非接觸測量3nm-1mm厚度范圍內(nèi)的涂層
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詳細摘要： 1、FR-Scanner-AIO-Mic-XY200介紹模塊化厚度測繪系統(tǒng)平臺，集成了光學(xué)、電子和機械模塊，用于表征圖案化薄膜光學(xué)參數(shù)
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詳細摘要： 自動化薄膜厚度繪圖系統(tǒng)依靠F50*的光譜測量系統(tǒng)，可以很簡單快速地獲得直徑450毫米的樣品薄膜的厚度分布圖
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詳細摘要： 滿足薄膜厚度范圍從15nm到3mm的*厚度測試系統(tǒng)F3-sX家族利用光譜反射原理，可以測試眾多半導(dǎo)體及電解層的厚度，可測厚度達3毫米
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詳細摘要： 自動化薄膜測繪FilmetricsF54系列的產(chǎn)品能以一個電動R-Theta平臺自動移動到選定的測量點以每秒測繪兩個點的速度快速的測繪薄膜厚度,樣品直徑達450...
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詳細摘要： 同步測量薄膜的反射率/穿透率不需要費時改變硬件配置，F(xiàn)10-RT僅需要透過單擊滑鼠就能夠同時收集反射與透射光譜，不到一秒鐘的時間，陣列的光譜儀就可以快速的收集到...
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詳細摘要： 比色光析管架2路比色光析管支架，可容納10毫米光程長度的矩形比色管（3.5毫升體積），用于吸光度/透射率測量
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詳細摘要： 膜厚儀FR-Mic是一款快速、準確測量薄膜表征應(yīng)用的模塊化解決方案，可以將光斑縮小到幾個微米，進而分析微小區(qū)域或者粗糙表面薄膜特征
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