用于工藝質量監(jiān)控定標性測試系統(tǒng)ContourGT-X是實驗室開發(fā)到批量生產均可適用的儀器。它積累了代產品在白光干涉技術上的，實現(xiàn)了快速地三維表面測量，從納米級粗糙度表面的測量到毫米級臺階的測量，垂直分辨率可達亞納米級?？删幊痰腦YZ控制和掃描頭自動控制，使得儀器操作簡便易行。配備的Vision64軟件，具有業(yè)界儀器測量和數(shù)據(jù)分析功能，而其優(yōu)化設計的用戶界面為使用者自行定義自動測量和數(shù)據(jù)分析提供了便利。
       ContourGT-X是當今業(yè)界xian進的白光干涉儀，可用于眼科鏡片、、高亮度LED、半導體器件、TSV、太陽能電池片、汽車零部件、觸摸屏和加工零件等各行業(yè)，為用戶提供快速、準確地三維非接觸式測量。內部激光自校準技術可以自動校準因環(huán)境或機械不穩(wěn)定產生的漂移，無需標準塊。大學、研究所，工業(yè)領域的LED行業(yè)、太陽能行業(yè)、觸摸屏行業(yè)、半導體行業(yè)以及數(shù)據(jù)存儲行業(yè)、科學研究、產品開發(fā)、質量控制及失效分析等領域業(yè)界xian進的白光干涉儀
ContourGT-X配備傾斜調整支架、全自動X,Y, Z 樣品臺、自動視場目鏡轉換臺，測試過程更快、更便捷。節(jié)省空間高穩(wěn)定性的基座設計以及與機臺集成一體式的防震系統(tǒng)，使系統(tǒng)具有防震性與穩(wěn)定性。配備新的Vision64軟件，具有業(yè)界儀器測量和數(shù)據(jù)分析功能，而其優(yōu)化設計的用戶界面為使用者自行定義自動測量和數(shù)據(jù)分析提供了便利。
 

儀器特性：
·  業(yè)界，大視場下高的垂直分辨率
·  從0.5x到200x不同放大倍率實現(xiàn)不同面型和織構表面的表征
·  硬件的優(yōu)化設計進一步的儀器抗噪聲能力、系統(tǒng)靈活性和測量穩(wěn)定性
·  激光自校準技術使得儀器間測量數(shù)據(jù)一致，測量的重復性和準確性
·  優(yōu)異的縫合能力可以對上千個數(shù)據(jù)無縫拼接，實現(xiàn)樣品大面積檢測
·  多核處理器和64位軟件使數(shù)據(jù)分析速度