簡介

為了滿足現(xiàn)代材料研究的挑戰(zhàn)，Swift開發(fā)了一系列全新的、可定制的原位拉伸試樣臺。這些的拉伸試樣臺適合多種顯微觀測系統(tǒng)，比如掃描電鏡、透射電鏡、光學(xué)顯微鏡、共聚焦顯微鏡等。支持EBSD，樣品加熱和冷卻,可實(shí)現(xiàn)原位“拉伸—剪切”、“壓縮—剪切”、“單軸拉伸/壓縮”、“純剪切”及疲勞力學(xué)測試等多重測試模式，實(shí)現(xiàn)原位復(fù)合載荷測試薄膜及細(xì)絲力學(xué)實(shí)驗(yàn)。

Swift原位拉伸試樣臺也可獨(dú)立使用測定材料力學(xué)參數(shù)；同時由于結(jié)構(gòu)緊湊微小、充分考慮了真空兼容性和電磁兼容性，因此可實(shí)現(xiàn)與金相顯微鏡、掃描電鏡、拉曼光譜儀、X射線衍射儀、原子力顯微鏡等顯微成像設(shè)備的兼容，所采用的超低速準(zhǔn)靜態(tài)加載方式有利于在成像儀器下對載荷作用下材料細(xì)微的變形損傷變化狀況進(jìn)行連續(xù)的高分辨率可視化原位監(jiān)測，便于系統(tǒng)深入的研究揭示載荷作用、材料變形損傷機(jī)制與微觀結(jié)構(gòu)變化間的規(guī)律。

應(yīng)用

Swift拉伸試驗(yàn)臺是高度通用的，能夠在各種材料上進(jìn)行各種機(jī)械測試。在靜態(tài)或動態(tài)條件下觀察材料表面納米級微觀形態(tài)和結(jié)構(gòu)變化。通過實(shí)時獲取的載荷，形變和溫度等數(shù)據(jù)，并結(jié)合掃描電子顯微鏡提供的材料微觀結(jié)構(gòu)分析數(shù)據(jù)，實(shí)現(xiàn)了定量分析材料微觀力學(xué)性質(zhì)，相變行為，取向變化，裂紋萌生和擴(kuò)展，材料疲勞和斷裂機(jī)制，材料彎曲機(jī)制，高溫蠕變性，分層，形成滑移面以及脫落等現(xiàn)象。

- 半導(dǎo)體器件，薄膜

- 硬質(zhì)涂層，電鍍層

- 金屬材料，陶瓷材料

- 玻璃，塊體材料

- 復(fù)合材料，聚合物材料

- 電鍍層，釬焊或焊接接頭

- 礦物，木材

- 有機(jī)材料等等

測試方法