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儀準科技(北京)有限公司
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24 2018-8

怎樣確認顯微鏡的放大倍率

很多實驗室都在使用顯微鏡,但對顯微鏡的相關(guān)專業(yè)知識并不了解,只是知道怎么去操作,但對于一些基本常識可能都不怎么清楚,那么今天我們就來講講有關(guān)顯微鏡的放大倍率是如何計算的?也許有人會說這不是很簡單的問題...

8 2018-8

北京失效分析實驗室

北京失效分析實驗室北京軸承失效分析MarvellTechnology收購Cavium,近日,MarvellTechnology宣布完成對Cavium公司的并購,合并后公司將專注于半導體基礎(chǔ)設(shè)施市場,涉...

1 2018-8

半導體分析設(shè)備

儀準科技有限公司是一家專業(yè)的半導體分析設(shè)備的整合商,產(chǎn)品涵蓋半導體、LCD(TFT)、LED、太陽能等高科技領(lǐng)域。主營產(chǎn)品有手動探針臺Probestation,激光開封機Laserdecap,光發(fā)射顯...

1 2018-8

IC封測:封裝和測試

儀準科技有限公司是一家專業(yè)的半導體分析設(shè)備的整合商,產(chǎn)品涵蓋半導體、LCD(TFT)、LED、太陽能等高科技領(lǐng)域。主營產(chǎn)品有手動探針臺Probestation,激光開封機Laserdecap,光發(fā)射顯...

5 2018-7

元器件失效現(xiàn)象與分析方法

失效分析技術(shù)分享活動元器件失效分析現(xiàn)狀與解決方案隨著人們對電子產(chǎn)品質(zhì)量可靠性的要求不斷增加,電子元器件的可靠性不斷引起人們的關(guān)注,如何提高可靠性成為電子元器件制造的熱點問題。例如在衛(wèi)星、飛機、艦船和計...

5 2018-7

失效分析怎樣避免損失

失效分析如何避免損失也許你會說,不是有專業(yè)的失效分析公司么?是的,目前有很多做電子元器件失效分析的公司,但是其中良莠不齊。一個比較普遍的現(xiàn)象是,缺乏深層次失效機理的分析能力。很多都停留在使用高精尖的設(shè)...

5 2018-7

失效分析不是簡單的檢測

失效分析不是簡單的檢測,1月7日,材料人邀請到中航工業(yè)失效分析中心工程師姜濤為大家介紹失效分析相關(guān)內(nèi)容。長約2個小時的講座,姜濤工程師從失效分析的基礎(chǔ)講到工作開展,再到行業(yè)發(fā)展。以下是根據(jù)講座內(nèi)容整理...

5 2018-7

失效分析崗位職責從業(yè)者要求

儀準科技有限公司是一家專業(yè)的半導體分析設(shè)備的整合商產(chǎn)品涵蓋半導體、LCD(TFT)、LED、太陽能等高科技領(lǐng)域儀準擁有一批有著多年豐富經(jīng)驗的銷售人員、應(yīng)用及服務(wù)人員;不僅能提供完整的設(shè)備方案更能為您的...

5 2018-7

半導體缺陷定位

半導體失效分析缺陷定位,失效分析主要基于來自掃描鏈和存儲器位圖的數(shù)據(jù)。目的是將失效隔離到特定的缺陷級和IC特定區(qū)。但是,進行準確的診斷所需要的測試信息與測試產(chǎn)品質(zhì)量所需的數(shù)據(jù)是不一樣的。例如,為使測試...

4 2018-7

微光顯微鏡技術(shù)指標

微光顯微鏡技術(shù)指標光子微漏電定位分析系統(tǒng)是一種模塊化的設(shè)計,它以人性化綜合控制系統(tǒng)為中心,實現(xiàn)了簡易的操作和非凡的測試精度。單項設(shè)備論證(一)——光子偵測系統(tǒng)1.設(shè)備名稱及數(shù)量名稱:光子偵測系統(tǒng)數(shù)量:...

4 2018-7

微光顯微鏡光子偵測系統(tǒng)構(gòu)成

微光顯微鏡光子偵測系統(tǒng)構(gòu)成,主要技術(shù)參數(shù)探測器(1)傳感器為InGaAsCCD,可降溫到-70℃(外置式冰水機及半導體制冷需同時工作);(2)傳感器物理像素不低于640×512;(3)像素尺寸不大于:...

4 2018-7

探針臺耗材GGB探針規(guī)格

探針臺耗材GGB探針規(guī)格DCdisposableprobetips:T-4-10軟針(材質(zhì):純鎢99.99%,抗氧化性好,測試數(shù)據(jù)重復都高,可以多次使用,不會傷及pad表面)直徑0.2um適合FIB電...

4 2018-7

聚焦離子束/電子束雙束系統(tǒng)性能特點

Crossbeam540聚焦離子束/電子束雙束系統(tǒng)性能特點(VSFEI)Crossbeam540是CarlZeiss的zui雙束加工平臺,SEM平臺采用的GeminiII鏡筒設(shè)計,具有的高低電壓分辨能...

4 2018-7

失效分析設(shè)備介紹

失效分析常用工具介紹;透射電鏡(TEM);TEM一般被使用來分析樣品形貌(morholog;與TEM需要激發(fā)二次電子或者從樣品表面發(fā)射的電子;然后用這種電子束轟擊樣品,有一部分電子能穿透樣品;對于晶體...

28 2018-6

切割研磨機采購注意事項

儀準科技國內(nèi)技術(shù)咨詢指導,美國Allied公司是專業(yè)研發(fā)生產(chǎn)切割研磨機的廠家,尤其在世界領(lǐng)域的半導體市場有著超過一半以上的*,芯片研磨所需要的夾具種類非常齊全,研磨品質(zhì)是其它品牌*的。MultiPre...

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