1. led電性能測試IV源表概述

   LED（全稱為Light-emitting diode）是一種能發(fā)光的半導體電子元件。和普通的二極管一樣，這些半導體材料會預先透過注入或攙雜等工藝以產(chǎn)生p、n架構(gòu)。LED只能夠往一個方向?qū)ǎㄍ姡?當在兩端加載合適的電壓后，電流可以從p極（陽極）流向n極（陰極），而相反方向則不能。兩種不同的載流子：空穴和電子在不同的電極電壓作用下從電極流向p、n架構(gòu)。當空穴和電子相遇而產(chǎn)生復合，電子會跌落到較低的能階，同時以光子的模式釋放出能量，即發(fā)光。經(jīng)過多年的發(fā)展，目前LED能夠發(fā)出的光已經(jīng)遍及可見光、紅外線及紫外線，光度亦提高到相當高的程度，用途覆蓋指示燈，顯示板，照明等。

   源表，SMU(Source Measure Unit)電源/測量單元，“源”為電壓源和電流源，“表”為測量表，“源表”即指一種可作為四象限的電壓源或電流源提供精確的電壓或電流，同時可同步測量電流值或電壓值的測量儀表。源表集合電壓源、電流源、電壓表、電流表的功能于一身，廣泛用于各類精密器件的測量。

2. 常用測試參數(shù)

   LED必須在合適的電流電壓驅(qū)動下才能正常工作。其電壓-電流之間的關(guān)系稱為I-V特性。通過對LED電特性的測試，可以獲得對應(yīng)正向電壓（Vf）、反向電壓（Vr）及漏電流（Ir）等參數(shù)，以及相應(yīng)的I-V曲線。常用的測試方法一般為在LED器件的兩端，加電壓測試電流，或者加電流測試電壓。此外，還可以根據(jù)客戶要求，搭配相應(yīng)的光學測試系統(tǒng)，測試相應(yīng)的光學性能。

   

   （典型二極管I-V特性曲線）                                  

3. （LED光電測試系統(tǒng)示意圖）

4. Vf正向?qū)妷簻y試

   正向?qū)妷?，?/span>LED在正常工作電流下測量的電壓值。當加載在LED兩端的工作電壓，低于導通電壓時，通過LED的電流極小，不發(fā)光。當電壓超過該值后，通過LED的電流隨電壓迅速增加，而后LED發(fā)光。常用測試方法為，將LED的正極接在高電位端，負極接在低電位端，逐漸增加LED的電流（電流值一般為幾mA），并同時測量LED兩端的電壓（電壓值范圍在幾V以內(nèi)）。而后根據(jù)實際測試需要，對數(shù)據(jù)進行分析，得到相應(yīng)的Vf值。

   
   

   Vr 反向擊穿電壓測試

   反向擊穿電壓，是所允許加載在LED兩端的Z大反向電壓。當二極管兩端的反向電壓超過Vr后，反向電流會急劇增大，二極管將失去單方向?qū)щ娞匦裕@種狀態(tài)稱為二極管的擊穿。若長時間工作電壓超過Vr，發(fā)光二極管可能被擊穿損壞。常用測試方法為，將LED的正極接在低電位端，負極接在高電位端，逐漸增加LED的電流（電流值一般為幾mA），并同時測量LED兩端的電壓（電壓值范圍在幾V以內(nèi)）。而后根據(jù)實際測試需要，對數(shù)據(jù)進行分析，得到相應(yīng)的Vr值。由于源表可作為四象限工作的電壓源，因此，在測試時，無需將接線端反接。源表內(nèi)部會自動根據(jù)設(shè)定值，切換輸出端的極性。

   
   

   Ir漏電流測試

   漏電流，指LED處于反向偏置狀態(tài)時，流過二極管的微弱反向電流。此時，LED兩端的電壓低于Vr。常用的測試方法為，將LED的正極接在低電位端，負極接在高電位端，而后根據(jù)實際測試需要，設(shè)定加載在LED兩端的電壓，測量電流Ir。

   
   

5. 繪制LED I-V特性曲線測試

6. 連接

   如下圖所示，選擇合適的夾具，將LED與S型源表進行連接

   

   （源表測試連接示意圖）

7. 測試步驟

led電性能測試IV源表簡介

普賽斯S系列高精度源表，集電壓、電流輸入輸出及測量等多種功能于一體。產(chǎn)品Z大輸出電壓達300V，最小測試電流達100pA，分辨率低至10pA，支持四象限工作，因此,可廣泛應(yīng)用于各種半導體器件I-V電特性測試，如半導體IC，功率半導體器件，傳感器，LED等。產(chǎn)品具有如下特點：

• 采用5寸800*480觸摸顯示屏，全圖形化操作，操作簡單方便

• 內(nèi)置豐富的掃描模式，支持線性掃描、指數(shù)掃描及用戶自定義掃描

• 四象限工作模式，可在源模式或肼模式下工作

• 支持USB存儲，一鍵導出測試報告

• 兼容多種上位機通訊方式，RS-232、GPIB及以太網(wǎng)

• 可搭配普賽斯自主開發(fā)的上位機軟件使用，快速實現(xiàn)不同器件的測試

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