IV曲線測(cè)試設(shè)備微電流源表國(guó)產(chǎn)品牌優(yōu)點(diǎn)：

同時(shí)精確提供和測(cè)量電壓和/或電流；

    同步測(cè)量，減少測(cè)試時(shí)間

提供和測(cè)量非常廣的電流和電壓；

    電壓測(cè)試范圍-30uV～300V,電流測(cè)試范圍-10pA～3A

支持運(yùn)行用戶腳本程序，無(wú)需電腦控制，提高生產(chǎn)測(cè)試速度；

    序列測(cè)試，簡(jiǎn)化操作，降低成本

采用用戶熟悉的圖形界面，不管用戶經(jīng)驗(yàn)是否豐富，使用起來(lái)都非常簡(jiǎn)便；

    觸屏操作

 
與傳統(tǒng)電源比：

電源過(guò)零需要改變線連接方式；

     增加需反復(fù)開(kāi)關(guān)機(jī)械開(kāi)關(guān)，降低了設(shè)備可靠性

電壓電流限制精度有限；

電壓1%，電流10mA

與電源結(jié)合萬(wàn)用表組合比：

萬(wàn)用表電源組合需要編程實(shí)現(xiàn)設(shè)備控制及同步；

     復(fù)雜連線、編程開(kāi)發(fā)

電源限壓限流性能差

      限壓限流精度低，瞬態(tài)特性也無(wú)法保證

脈沖源表特點(diǎn)  

•5寸觸摸顯示屏全圖形化操作                         
•內(nèi)置*的功能軟件，加速用戶完成測(cè)試，如LIV、PIV
•源及測(cè)量的準(zhǔn)確度為0.03%
•四象限工作（源和阱），源及測(cè)量范圍廣：電流低至1pA，電壓高至300V
•Z小脈沖寬度200μs
•豐富的掃描模式，支持線性掃描、指數(shù)掃描及用戶自定義掃描
•支持USB存儲(chǔ)，一鍵導(dǎo)出測(cè)試報(bào)告
•支持多種通訊方式，RS-232、GPIB及以太網(wǎng)        

提供的應(yīng)用程序

- 序列掃描

- 數(shù)據(jù)記錄儀：持續(xù)輸出恒壓源測(cè)試模式；持續(xù)輸出恒流源測(cè)試模式

- APD管

- 晶體管：MOSFET 管測(cè)試；三極管測(cè)試

- LIV：PIN 管掃描測(cè)試

- 波形發(fā)生器：設(shè)置正弦波、三角波、方波、鋸齒波四種波形；直流模式輸出和脈沖模式輸出；可以設(shè)置自定義序列

IV曲線測(cè)試設(shè)備微電流源表國(guó)產(chǎn)品牌應(yīng)用
•分立半導(dǎo)體器件特性測(cè)試，電阻、二極管、發(fā)光二極管、齊納二極管、PIN二極管、BJT三極管、MOSFET、SIC等
•能量與效率特性測(cè)試，LED/AMOLED、太陽(yáng)能電池、電池、DC-DC轉(zhuǎn)換器等
•傳感器特性測(cè)試，電阻率、霍爾效應(yīng)等

•有機(jī)材料特性測(cè)試，電子墨水、印刷電子技術(shù)等

•納米材料特性測(cè)試，石墨烯、納米線等