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S200 數(shù)字源表IV掃描納米材料電性能方案

參考價(jià)訂貨量

¥1000

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具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 型號(hào)S200
  • 品牌普賽斯儀表
  • 所在地武漢市
  • 更新時(shí)間2024-03-05
  • 廠商性質(zhì)生產(chǎn)廠家
  • 所在地區(qū)武漢市
  • 實(shí)名認(rèn)證已認(rèn)證
  • 產(chǎn)品數(shù)量488
  • 人氣值116590
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      武漢普賽斯儀表有限公司是武漢普賽斯電子技術(shù)有限公司的全資子公司,一直專注于半導(dǎo)體的性能測(cè)試儀表的開(kāi)發(fā)、生產(chǎn)與銷售,致力于滿足半導(dǎo)體領(lǐng)域從材料、晶圓到器件測(cè)試用科學(xué)儀器的國(guó)產(chǎn)替代需求。

      基于普賽斯電子領(lǐng)X的光學(xué)與光電技術(shù)、微弱信號(hào)處理與抗干擾技術(shù)、高速數(shù)字信號(hào)處理、核心算法與系統(tǒng)集成等技術(shù)平臺(tái)優(yōu)勢(shì),公司自主研發(fā)了高精度臺(tái)式數(shù)字源表、脈沖式源表、窄脈沖電流源、集成插卡式源表、高精度超大電流源、高精度高壓電源、數(shù)據(jù)采集卡等國(guó)產(chǎn)化電性能測(cè)試儀表,以及mini LED測(cè)試系統(tǒng)、電流傳感器測(cè)試系統(tǒng)、功率器件靜態(tài)參數(shù)測(cè)試系統(tǒng)等。產(chǎn)品以其測(cè)試精度高、速度快、兼容性強(qiáng)、測(cè)試范圍寬、可靠性高、操作簡(jiǎn)便以及快捷靈活的響應(yīng)式服務(wù)等優(yōu)勢(shì),廣泛應(yīng)用于新型半導(dǎo)體器件材料分析、半導(dǎo)體分立器件測(cè)試、集成電路測(cè)試、高校教學(xué)實(shí)訓(xùn)平臺(tái)等應(yīng)用;為客戶提供模塊化硬件、高效驅(qū)動(dòng)程序和高效算法軟件組合,幫助用戶構(gòu)建自定義解決方案,同時(shí)滿足行業(yè)對(duì)測(cè)試效率、測(cè)試精度、供應(yīng)鏈安全以及規(guī)模化的挑戰(zhàn)。

      普賽斯儀表自主研制的國(guó)產(chǎn)化數(shù)字源表,可作為電壓源和或電流源并同步測(cè)量電流和或電壓,支持四象限工作。作為國(guó)內(nèi)嶺先的半導(dǎo)體電性能測(cè)試儀表提供商,普賽斯儀表憑借長(zhǎng)期的技術(shù)創(chuàng)新、精益的生產(chǎn)制造、嚴(yán)格的質(zhì)量體系及國(guó)際化視野,推出的產(chǎn)品已被國(guó)內(nèi)通信巨投和多家之名半導(dǎo)體企業(yè)認(rèn)可和應(yīng)用,是為數(shù)不多進(jìn)入國(guó)際半導(dǎo)體測(cè)試市場(chǎng)供應(yīng)鏈體系的半導(dǎo)體電性能測(cè)試設(shè)備廠商。未來(lái),公司將繼續(xù)以“為客戶提供醉優(yōu)質(zhì)的產(chǎn)品與Z貼心的服務(wù)”為宗旨,朝著圈球半導(dǎo)體電性能測(cè)試儀表的L跑者邁進(jìn)。









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產(chǎn)地國(guó)產(chǎn) 加工定制否 工作環(huán)境25±10℃
測(cè)試范圍0~300V/0~3A 測(cè)試精度0.03%
納米材料及器件作為戰(zhàn)略性新興產(chǎn)業(yè)和高新技術(shù)產(chǎn)業(yè),是促進(jìn)產(chǎn)業(yè)轉(zhuǎn)型升級(jí)和高質(zhì)量發(fā)展的重要支柱之一。普賽斯數(shù)字源表具有測(cè)試精度高、微弱信號(hào)檢測(cè)能力強(qiáng)的特點(diǎn),可根據(jù)用戶測(cè)試需求配置高效率、高精度、高性價(jià)比的納米材料測(cè)試方案,廣泛應(yīng)用在納米材料、納米器件、納米發(fā)電等產(chǎn)品的研發(fā)生產(chǎn)領(lǐng)域,數(shù)字源表IV掃描納米材料電性能方案認(rèn)準(zhǔn)普賽斯儀表
數(shù)字源表IV掃描納米材料電性能方案 產(chǎn)品詳情


01




/納米材料電學(xué)性能的表征和分析/


        與傳統(tǒng)的材料相比,納米材料具有原子級(jí)厚度、表面平整無(wú)懸空鍵、載流子遷移率好等優(yōu)點(diǎn),其導(dǎo)電性能很大程度依賴于材料本身的帶隙、摻雜濃度和載流子遷移率。同樣的摻雜濃度下,遷移率越大,電阻率越小,導(dǎo)電率就越高。在納米材料/器件電學(xué)性能的表征和分析中,通常采用霍爾效應(yīng)及電阻率測(cè)試法。


霍爾效應(yīng)測(cè)試

        當(dāng)電流垂直于外磁場(chǎng)通過(guò)納米材料時(shí),載流子發(fā)生偏轉(zhuǎn),垂直于電流和磁場(chǎng)的方向會(huì)產(chǎn)生附加電場(chǎng),從而在半導(dǎo)體兩端產(chǎn)生電勢(shì)差,這一現(xiàn)象稱為霍爾效應(yīng)?;魻栃?yīng)測(cè)試常用的測(cè)試方法是范德堡法,并在測(cè)試時(shí)外加磁場(chǎng)。


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圖:霍爾效應(yīng)測(cè)試系統(tǒng)架構(gòu)








電阻率測(cè)試

        二維納米材料(如石墨烯)電阻率測(cè)試是重要的測(cè)試項(xiàng)目,測(cè)試方法主要為四探針?lè)ㄅc范德堡法。

        對(duì)于規(guī)則圓形的材料樣品,電阻率測(cè)試比較方便的方法是四探針?lè)?,四探針?lè)▋?yōu)勢(shì)在于分離電流和電壓電極,消除布線及探針接觸電阻的阻抗影響。范德堡法為更通用的四探針測(cè)量技術(shù),對(duì)樣品形狀沒(méi)有要求,且不需要測(cè)量樣品所有尺寸。


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圖:四探針?lè)y(cè)試系統(tǒng)架構(gòu)


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圖:范德堡法測(cè)試系統(tǒng)架構(gòu)




        此外,由于納米材料具有度特的物理、化學(xué)和生物學(xué)性質(zhì),在制備過(guò)程中納米粒子的大小、形狀和結(jié)構(gòu)很難控制,且納米材料的性質(zhì)受表面效應(yīng)、尺寸效應(yīng)和缺陷效應(yīng)等因素的影響,使其制備和性質(zhì)研究面臨巨大挑戰(zhàn)。


Science Technology

02




/納米材料高溫原位表征技術(shù)/

        原位表征技術(shù)的發(fā)展促進(jìn)了科研人員對(duì)納米材料的認(rèn)識(shí),使得納米材料的性能研究實(shí)現(xiàn)飛躍性突破。其中原位透射電子顯微分析法(TEM)是實(shí)時(shí)監(jiān)控與記錄位于電鏡內(nèi)的試樣對(duì)不同外界激勵(lì)信號(hào)的動(dòng)態(tài)響應(yīng)的一種手段,有助于加速納米材料的開(kāi)發(fā)和應(yīng)用。


        高溫原位表征系統(tǒng)基于高精度數(shù)字源表,控制MEMS芯片在原位樣品臺(tái)內(nèi)對(duì)樣品構(gòu)建精細(xì)熱場(chǎng)自動(dòng)調(diào)控及反饋測(cè)量系統(tǒng),并結(jié)合透射電子顯微鏡(TEM)研究材料在不同熱場(chǎng)條件下發(fā)生結(jié)構(gòu)相變、形貌變化、物性變化以及電性變化等關(guān)鍵信息,是納米材料結(jié)構(gòu)表征科學(xué)最新穎、最有發(fā)展空間的表征技術(shù)之一。


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圖:原位TEM電性能表征

注:圖片來(lái)源于“Phase and polarization modulation in two-dimensional In2Se3 via in situ transmission electron microscopy”

03




/數(shù)字源表IV掃描納米材料電性能方案/

        目前,納米材料的應(yīng)用主要集中在電子信息、生物材料、能源等領(lǐng)域,其中在新型電子器件的設(shè)計(jì)和制造上取得很大突破,如納米晶體管、納米傳感器、納米光電子器件等。通過(guò)在納米尺度上控制和操縱電子器件和材料的性質(zhì),使得器件具有更小的尺寸、更低的功耗以及更快的響應(yīng)速度,未來(lái)在電子信息及其他科技領(lǐng)域上將會(huì)衍生更大的價(jià)值。因此,針對(duì)納米材料的不同應(yīng)用,采用有效的技術(shù)方法和手段對(duì)納米材料/器件的性能進(jìn)行深入研究至關(guān)重要。

納米電極材料應(yīng)用及測(cè)試表征

碳納米管具有優(yōu)異的機(jī)械性能和電化學(xué)性能,一直在各領(lǐng)域備受關(guān)注。在鋰電池的應(yīng)用中,碳納米管作為電極時(shí),其度特的網(wǎng)絡(luò)結(jié)構(gòu)不僅能夠有效地連接更多的活性物質(zhì),出色的電導(dǎo)率也可以大幅降低阻抗。電導(dǎo)率及循環(huán)伏安法是表征電極材料電性能的重要手段,循環(huán)伏安法測(cè)試過(guò)程中,使用較多的是三電極系統(tǒng)和兩電極體系。

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圖:循環(huán)伏安法測(cè)試系統(tǒng)架構(gòu)


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圖:循環(huán)伏安法測(cè)試曲線

雙極板(BPP)材料應(yīng)用及測(cè)試表征

質(zhì)子交換膜燃料電池(PEMFC)是一種使用氫氣和氧氣作為燃料的電池,通過(guò)化學(xué)反應(yīng)生成水,并產(chǎn)生電能。雙極板(Bipolar plate,以下簡(jiǎn)稱BP)是燃料電池的一種核心零部件,主要作用為支撐MEA,提供氫氣、氧氣和冷卻液流體通道并分隔氫氣和氧氣、收集電子、傳導(dǎo)熱量,常見(jiàn)的材料有石墨、復(fù)合材料和金屬。作為核心部件,體電阻率測(cè)試是雙極板材料性能的重要表征技術(shù)之一。

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圖:體電阻率測(cè)試系統(tǒng)架構(gòu)

納米壓敏陶瓷材料應(yīng)用及電性能測(cè)試表征

壓敏電阻又稱變阻器、變阻體或突波吸收器,其電阻會(huì)隨外部電壓而改變,因此它的電流-電壓特性曲線具有顯著的非線性:

- 在閾值電壓以下,壓敏電阻的阻值很高,相當(dāng)于開(kāi)路;

- 超過(guò)閾值電壓后,壓敏電阻的阻值大大降低,吸收瞬間的能量。


壓敏電阻的電學(xué)特性主要包括壓敏電壓、漏電流、封裝耐壓、響應(yīng)度等方面。由于器件本身耐壓高,測(cè)試需要高壓,同時(shí)需要納安級(jí)小電流測(cè)量能力,推薦使用普賽斯P系列脈沖源表或E系列高電壓源測(cè)單元,P系列脈沖源表具備300V高壓,小電流低至1pA;E系列高壓源測(cè)單元最大電壓高達(dá)3500V、最小電流低至1nA。

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圖:P系列高精度臺(tái)式脈沖源表

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圖:E系列高電壓源測(cè)單元

納米發(fā)電材料應(yīng)用及測(cè)試表征

納米發(fā)電機(jī)是基于規(guī)則的氧化納米線,在納米范圍內(nèi)將機(jī)械能、熱能等轉(zhuǎn)化為電能,是市界上最小的發(fā)電機(jī)。目前主要包括:摩擦納米發(fā)電機(jī)、壓電納米發(fā)電機(jī)、熱釋電納米發(fā)電機(jī)、靜電納米發(fā)電機(jī)以及溫差發(fā)電機(jī)等。


由于納米發(fā)電自身的技術(shù)原因,在測(cè)試時(shí)具有電流信號(hào)微弱(低至μA甚至納安級(jí));內(nèi)阻大,開(kāi)路電壓很難測(cè)準(zhǔn);信號(hào)變化快,難以捕獲電壓或電流峰值等特點(diǎn)。推薦使用普賽斯S系列直流源表、P系列脈沖源表或CS系列插卡式多通道源表,搭配上位機(jī)軟件,可實(shí)現(xiàn)納米發(fā)電材料輸出電壓以及輸出電流隨時(shí)間變化的曲線:V-t、I-t等,適用于摩擦發(fā)電、水伏發(fā)電、溫差發(fā)電等納米發(fā)電研究領(lǐng)域。

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圖:納米水伏發(fā)電測(cè)試系統(tǒng)架構(gòu)


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圖:納米溫差發(fā)電測(cè)試系統(tǒng)架構(gòu)

有機(jī)場(chǎng)效應(yīng)晶體管應(yīng)用及測(cè)試表征

有機(jī)場(chǎng)效應(yīng)晶體管(OFET)是一種利用有機(jī)半導(dǎo)體組成的場(chǎng)效應(yīng)晶體管。一般由柵極、絕緣層、有機(jī)有源層、源/漏電極構(gòu)成。主要性能指標(biāo)有遷移率、開(kāi)關(guān)電流比、閾值電壓三個(gè)參數(shù),通常用輸出特性曲線和轉(zhuǎn)移特性曲線來(lái)表征。推薦使用普賽斯SPA6100半導(dǎo)體參數(shù)分析儀來(lái)進(jìn)行I-V測(cè)試以及C-V測(cè)試,可以用來(lái)獲取器件的輸出轉(zhuǎn)移特性、柵極漏電流、漏源擊穿電壓等參數(shù);C-V測(cè)試可以確定二氧化硅層厚度dox、襯底摻雜濃度N以及固定電荷面密度Qfc等參數(shù)。

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圖:SPA6100半導(dǎo)體參數(shù)分析儀


數(shù)字源表IV掃描納米材料電性能方案認(rèn)準(zhǔn)普賽斯儀表咨詢,納米材料及器件作為戰(zhàn)略性新興產(chǎn)業(yè)和高新技術(shù)產(chǎn)業(yè),是促進(jìn)產(chǎn)業(yè)轉(zhuǎn)型升級(jí)和高質(zhì)量發(fā)展的重要支柱之一。普賽斯數(shù)字源表具有測(cè)試精度高、微弱信號(hào)檢測(cè)能力強(qiáng)的特點(diǎn),可根據(jù)用戶測(cè)試需求配置高效率、高精度、高性價(jià)比的納米材料測(cè)試方案,廣泛應(yīng)用在納米材料、納米器件、納米發(fā)電等產(chǎn)品的研發(fā)生產(chǎn)領(lǐng)域

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