在半導(dǎo)體和集成電路工藝中，材料、晶圓、芯片的測試是比不可少的環(huán)節(jié)。數(shù)字源表SMU具備源測功能，可以產(chǎn)生電流-電壓(I-V)特性曲線，是半導(dǎo)體材料、器件電性能表征測量的核心。在測試時(shí)，通過數(shù)字源表提供激勵(lì)并對測量信號進(jìn)行采集，首先將電流或電壓輸入被測器件（DUT），測量該器件對此輸入信號的響應(yīng)；這些信號的路徑為：源表的輸出端接入電纜，電纜和探針連接，電流或電壓信號通過探針至芯片。

無論在研究實(shí)驗(yàn)室還是生產(chǎn)線，都要對封裝器件或在晶圓上進(jìn)行I-V測試。I-V特性分析通常需要高靈敏電流表、電壓表、電壓源和電流源。對所有分離儀器進(jìn)行編程、同步和連接，既麻煩又耗時(shí)，而且需要大量機(jī)架或測試臺空間。為了簡化測試，縮小機(jī)架空間，單一儀表數(shù)字源表應(yīng)運(yùn)而生。普賽斯P型數(shù)字源表，同時(shí)提供電流和電壓的源和測量，支持四象限工作，最大輸出電壓達(dá)300V，最小測試電流達(dá)10pA，符合芯片的測試需求，這些測試可通過數(shù)字源表的觸摸屏輕松實(shí)現(xiàn)，用戶可以在觸摸屏上進(jìn)行測試設(shè)置，并呈現(xiàn)測試圖表，操作簡單、測試效率高。

普賽斯源表優(yōu)點(diǎn)：

同時(shí)精確提供和測量電壓和/或電流；

    同步測量，減少測試時(shí)間

提供和測量非常廣的電流和電壓；

    電壓測試范圍-30uV～300V,電流測試范圍-10pA～3A

支持運(yùn)行用戶腳本程序，無需電腦控制，提高生產(chǎn)測試速度；

    序列測試，簡化操作，降低成本

采用用戶熟悉的圖形界面，不管用戶經(jīng)驗(yàn)是否豐富，使用起來都非常簡便；

    觸屏操作

 
與傳統(tǒng)電源比：

電源過零需要改變線連接方式；

     增加需反復(fù)開關(guān)機(jī)械開關(guān)，降低了設(shè)備可靠性

電壓電流限制精度有限；

電壓1%，電流10mA

與電源結(jié)合萬用表組合比：

萬用表電源組合需要編程實(shí)現(xiàn)設(shè)備控制及同步；

     復(fù)雜連線、編程開發(fā)

電源限壓限流性能差

      限壓限流精度低，瞬態(tài)特性也無法保證

P型數(shù)字源表應(yīng)用優(yōu)勢：
1、多功能測量需求下的廣泛的適應(yīng)性，電壓高達(dá)300V，電流低至10pA；
2、實(shí)現(xiàn)“源”的輸出和“表”的測量同步進(jìn)行，提高測試效率。
3、具備對測試器件的保護(hù)功能，可進(jìn)行自我限制，避免因過充而造成的對測試器件的損害；
精確的電壓電流限制功能，為器件提供*的保護(hù)功能，避免器件損壞。
4、觸屏圖形化操作，使用簡單。開放式平臺，可根據(jù)實(shí)際應(yīng)用的需求而針對性的開發(fā)軟件。