武漢高溫常規(guī)探針臺6英寸樣品臺手動款，適配晶圓、芯片、LED、IGBT 等器件的常規(guī)高溫測試。適合高校實驗室和半導體研發(fā)機構(gòu)開展高溫下的材料電學性能研究。

6英寸樣品臺在半導體領(lǐng)域是較為常用的，同時也能兼容更小尺寸的2-4英寸，通用性優(yōu)于小尺寸樣品臺。

武漢高溫常規(guī)探針臺6英寸樣品臺特點

移動行程與精度達標：XY 移動行程 6 英寸 ×6 英寸，覆蓋整個 6 英寸樣品的測試區(qū)域，移動精度1μm - 10μm

多角度多維度調(diào)節(jié)：支持 360° 自由移動和旋轉(zhuǎn)，（±10°微調(diào)功能）帶角度鎖死裝置方便調(diào)整樣品測試角度（ 10mm 左右的升降行程）

耐溫與溫控精準：選用鋁合金、黃銅鍍金等耐溫材質(zhì)，搭配 PID 溫控方式，控溫精度達 0.1℃，溫度穩(wěn)定性 ±0.1 - ±0.5℃

適配特殊測試環(huán)境：部分機型可搭配真空腔體、保護氣接口，通入保護氣體防止樣品在高溫下氧化，適配對環(huán)境要求嚴苛的材料高溫特性測試

適配多類測試需求：底座為U型設計，可放置多個探針座，支持多測點同時測試，適配多種高溫電學測試。滿足不同精度的測試需求。

武漢理化儀器主打常溫探針臺、高溫探針臺、低溫探針臺、真空探針臺、手動/半自動探針臺、小型/中型/大型樣品臺探針臺、尺寸規(guī)格頗多，可放心選購。