摘要 工業(yè)CT FF35/FF20的特性:高精度機(jī)械系統(tǒng),確保CT精度

摘要 工業(yè)CT FF35/FF20具有高精度機(jī)械系統(tǒng)，確保CT精度,水冷射線源，高精度CT的大理石基石

摘要 日本電子熱場發(fā)射掃描電鏡JSM-7001F是能夠滿足與高分辨率和易用性同樣的分析應(yīng)用需求的理想平臺(tái)。

摘要 東京精密機(jī)車車軸外徑測量機(jī)是對被放置在搬送裝置上傳送過來的新干線用車軸在裝置內(nèi)的測量位置處。

摘要 東京精密小型高精度圓度圓柱度形狀測量機(jī)R54DX偏置型保持架, 便于測量各種工件。

摘要 東京精密圓度圓柱度形狀測量機(jī)R44SD是偏置型保持架, 便于測量各種工件。

摘要 東京精密圓度圓柱度測量機(jī)R71C用于中型異形工件的圓柱解析

摘要 東京精密圓度圓柱度形狀測量機(jī)R72A，回轉(zhuǎn)精度0.06um具有自動(dòng)調(diào)中心，調(diào)垂直功能，而且從自動(dòng)調(diào)中心到測量，為高效率的全自動(dòng)操作。

摘要 美國STARRETT 臥式投影機(jī)HB400-SR221在各軸上均有微調(diào)，無反沖力，在X軸上配有快速移動(dòng)的機(jī)械裝置。

摘要 美國STARRETT 臥式投影機(jī)HD400-SR221工作臺(tái)臺(tái)面為540×130mm, 行程405×152mm, 工件承載能力為50公斤，工件被測范圍為335mm.

摘要 膜厚儀F50光譜反射儀使用非接觸技術(shù)，不需要任何樣本準(zhǔn)備就可以測量厚度。只需一秒鐘分析從薄膜反射的光就可確定薄膜厚度和折射率。

摘要 水滴角測試儀 OCA15EC用于快速準(zhǔn)確地對芯片或框架表面進(jìn)行接觸角/表面能量分析，以評估粘附性、清潔度和涂層。

摘要 MetraSCAN 3D 光學(xué) CMM 掃描儀系列專為那些想要獲取高質(zhì)量或有效率的制造和計(jì)量專業(yè)人士而設(shè)計(jì).它可以在任何生產(chǎn)環(huán)境中使用,包括車間震動(dòng),部件移動(dòng)和環(huán)境不穩(wěn)定等環(huán)境,同時(shí)還能加速3D測量工作流程.

摘要Go!SCAN 3D 是本公司出品的快速、用戶友好型手持式三維掃描儀.作為產(chǎn)品開發(fā)階段的工具,Go!SCAN 3D 三維掃描儀可快速測量任何復(fù)雜表面,使用即可獲取"理想結(jié)果".與 3D 建模軟件和產(chǎn)品生命周期管理工作流程無縫集成,該設(shè)備將會(huì)大大改善產(chǎn)品開發(fā),促進(jìn)創(chuàng)新,...

摘要 奧林巴斯工具膠LEXT OLS5000 3D測量激光顯微鏡配備的兩套光學(xué)系統(tǒng)（彩色成像光學(xué)系統(tǒng)和激光共焦光學(xué)系統(tǒng)）讓其能夠獲取彩色信息、高度信息和高分辨率圖像.

摘要 TESCAN掃描電鏡S8000 FE-SEM 系列超高分辨場發(fā)射掃描電鏡可以提供的圖像質(zhì)量,具有的擴(kuò)展分析能力,能夠滿足現(xiàn)今工業(yè)研發(fā)和科研的所有需求,不僅適用于的納米分析應(yīng)用,也給操作者帶來舒適、高效的使用體驗(yàn).

摘要 TESCAN掃描電鏡S8000G FIB-SEM掃描電鏡的個(gè)新成員,是一款超高分辨雙束FIB-SEM系統(tǒng),它可以提供的圖像質(zhì)量,具有的擴(kuò)展分析能力,并能以的精度、效率完成復(fù)雜的納米加工和操作,可滿足現(xiàn)今工業(yè)研發(fā)和學(xué)術(shù)界研究的所有需求.

摘要 TESCAN掃描電鏡XEIA3 model 2016是一款獨(dú)特的能實(shí)現(xiàn)綜合性能的一體化FIB-SEM.它具備了各種的應(yīng)用功能,如快捷的微納米FIB加工,超高分辨率可靠分析或復(fù)雜的3D重構(gòu)分析等.

摘要 TESCAN掃描電鏡GAIA3-model 2016是一款可以挑戰(zhàn)納米設(shè)計(jì)應(yīng)用的理想平臺(tái),它同時(shí)具備的精度和微量分析的能力.GAIA3 model 2016擅長的一些應(yīng)用包括制備高質(zhì)量的超薄TEM樣品,在技術(shù)節(jié)點(diǎn)減少層級(jí)的過程,精確的納米構(gòu)圖或高分辨率的三維重建.

摘要MAIA3 model 2016產(chǎn)品是一款具有超高表面靈敏度的高分辨掃描電子顯微鏡,在不同加速電壓下均有著出色的成像能力.MAIA3 model 2016在低電壓下也有的性能,尤其對電子束敏感的半導(dǎo)體器件樣品以及納米材料等都具有優(yōu)異的表面靈敏度及高空間分辨率.全新的M...

摘要TESCAN掃描電鏡XEIA3是一款獨(dú)特的集多種功能于一體的新型雙束聚焦(XE)掃描電子顯微鏡,它性能優(yōu)異,為用戶提供的整體解決方案.XEIA3不僅配有大功率的FIB以進(jìn)行超快速的微米或納米級(jí)切割,還具備出色的低能粒子束成像能力,同時(shí)亦可以進(jìn)行快速可靠地顯微分析以及樣...

摘要TESCAN S9000X是一款氙（Xe）等離子超高分辨雙束FIB-SEM系統(tǒng),配置新穎的TriglavTM 超高分辨率電子鏡筒以及款的iFIB+TM離子鏡筒,它的超高分辨表征能力和的樣品制備效率,足以應(yīng)對半導(dǎo)體和材料表征中挑戰(zhàn)性的物理失效分析工作,實(shí)現(xiàn)大體積三維樣品...

摘要 Outstanding image quality for a wide variety of requirements in medicine and biology. With the AxioCam MRc 5,

摘要 卡爾·蔡司的AxioCam HR – 由顯微鏡專家專門為顯微鏡學(xué)家開發(fā)的系統(tǒng)

摘要 TESCAN掃描電鏡TIMA3 LM集成式礦物分析儀（TIMA）是一款新型的自動(dòng)礦物分析的掃描電子顯微鏡,適用于采礦和礦物加工行業(yè).TIMA可以對塊狀、薄片或拋光切片樣品進(jìn)行自動(dòng)礦產(chǎn)豐度分析、粒度解離分析、礦物組合分析和顆粒尺寸分析.

摘要TESCAN掃描電鏡GAIA3電鏡系統(tǒng)的集成了超高分辨率的電子光學(xué)系統(tǒng)和高性能的離子束系統(tǒng),二者配置于同一樣品室上.GAIA3電鏡以MAIA3場發(fā)射掃描電鏡為平臺(tái),在保留MAIA3性能的基礎(chǔ)上,增加了使用聚焦離子束進(jìn)行樣品表面處理的功能.GAIA3具有創(chuàng)新性的場發(fā)射電...

摘要 TESCAN掃描電鏡ACCESORIES主要特點(diǎn)：多功能控制臺(tái),LVSTD探測器,納米操作手,彩色陰極發(fā)光探測器,IN-Beam SE探測器,STEM探測器.

摘要 TESCAN掃描電鏡special products主要特點(diǎn)：內(nèi)置 AFM/SPM,RISE Microscopy,TOF-SIMS & FERA3,EBIC - 電子束感生電流探頭,MIRA3 AMU 定制樣品室,電子束寫入模塊包（EBL),TOP-SIMS

摘要 TESCAN掃描電鏡used sems購買被SEM制造商修復(fù)的二手SEM也是一種又便宜又安全的方法。我們也可以根據(jù)您的要求，對設(shè)備進(jìn)行升級(jí)。

摘要 FEI掃描電鏡Verios XHR SEM是 FEI 的 XHR（分辨率）SEM 系列的第二代產(chǎn)品.在半導(dǎo)體制造和材料科學(xué)應(yīng)用中,它可在 1 至 30 kV 范圍內(nèi)提供亞納米量級(jí)分辨率以及增強(qiáng)的對比度,滿足材料精密測量所需.

摘要 徠卡顯微系統(tǒng)有限公司推出了一種全新的完整解決方案，它融合了共焦成像和干涉測量技術(shù)二者的優(yōu)點(diǎn)：Leica材料共聚焦顯微鏡 DCM 3D 雙核三維測量顯微鏡

摘要 蔡司掃描電鏡EVO18是一臺(tái)普通性能,能分辨應(yīng)用掃描電子顯微鏡.系統(tǒng)采用多接口的樣品室和物鏡設(shè)計(jì),提供真空成像功能,可對各種材料表面作分析.

摘要日立新型高分辨率透射電鏡HT7830是日立120kV透射電鏡的高分辨版本,主要針對軟材料領(lǐng)域,保留了HT7800標(biāo)準(zhǔn)版的CMOS熒光相機(jī)、雙隙物鏡、全數(shù)字化、大集成等優(yōu)點(diǎn),同時(shí)專門針對材料類樣品升級(jí)了物鏡極靴,采用高亮度的LaB6燈絲,可實(shí)現(xiàn)0.19nm（on-axi...

摘要 日立新型冷場發(fā)射掃描電鏡Regulus8200系列是集高分辨觀察和大束流分析與一體的掃描電鏡.Regulus8200冷場掃描電鏡不僅秉承以往冷場發(fā)射掃描電鏡的全部優(yōu)點(diǎn),還大幅提高了探針電流,并極大增強(qiáng)了電流的穩(wěn)定性.

摘要 日立高分辨冷場發(fā)射掃描電鏡Regulus8100是日立冷場發(fā)射掃描電鏡的全新系列,Regulus8100保留了SU8010易維護(hù)、易操作等優(yōu)點(diǎn),進(jìn)一步提高性能,1kV減速模式下分辨率達(dá)到了0.8nm,15kV達(dá)到0.7nm,高低電壓均可滿足高分辨的觀察.

摘要 日立高智能熱場發(fā)射掃描電鏡SU5000創(chuàng)新的“EM Wizard”界面更加直觀,僅需要“點(diǎn)擊”即可得到的圖像.超前的電腦輔助技術(shù)將電鏡的操作與控制提升到一個(gè)新水平.

摘要 日立熱場掃描電鏡SU7000采用全新設(shè)計(jì)的探測器,使得對二次電子信號(hào)、背散射電子信號(hào)的檢測以及分離能力大大提升.SU7000通過新研發(fā)的樣品倉以及檢測器系統(tǒng),可在不改變WD的條件下更高效地接收各種信號(hào),縮短了樣品觀察和分析的時(shí)間,提高了測試效率.

摘要日立高分辨冷場發(fā)射掃描電鏡SU9000是高二次電子分辨率（0.4nm@30kV）和STEM分辨率（0.34nm@30kV）的掃描電鏡.它采取了獨(dú)特的真空系統(tǒng)和電子光學(xué)系統(tǒng),不僅分辨率性能優(yōu)異,而且作為冷場發(fā)射掃描電鏡甚至不需要傳統(tǒng)意義上的Flashing操作,可以快速...

摘要 日立透射電鏡HT7820該機(jī)型繼承了標(biāo)準(zhǔn)版HT7800高速CMOS熒光屏相機(jī)設(shè)計(jì)、全數(shù)字化、大集成等優(yōu)點(diǎn)和創(chuàng)新點(diǎn),仍然采用第二代雙隙物鏡的設(shè)計(jì),設(shè)計(jì)使用高分辨物鏡,標(biāo)配LaB6燈絲,性能實(shí)現(xiàn)突破性提升.

摘要 2016年，日立高新公司推出臺(tái)大氣壓下掃描電子顯微鏡AeroSurf1500,其獨(dú)特的設(shè)計(jì)可在大氣壓下得到清晰的掃描電子圖像.

摘要 日立TM4000掃描電鏡獨(dú)特的低真空系統(tǒng)使得樣品不需任何處理即可快速進(jìn)行觀察,TM4000優(yōu)化提供5kV、10kV、15kV三種不同電壓下的觀察模式,每種模式下電流4檔可調(diào),并配備4分割背散射探測器,可采集四個(gè)不同方向的圖像信息,對樣品進(jìn)行多種模式成像.

摘要 英國Quorum/Emitech高真空鍍膜儀K975X是一個(gè)多用途系統(tǒng)，它具有靈活性和模塊化擴(kuò)展功能，以適應(yīng)不同的樣品制備。

摘要 英國Quorum/Emitech高真空蒸鍍儀可用于TEM和X-Ray分析中的覆膜，以及SEM中的導(dǎo)電涂層。

摘要 蔡司掃描電鏡GeminiSEM 500 具有出色的分辨率，在較低的加速電壓下仍可呈現(xiàn)給您更強(qiáng)的信號(hào)和更豐富的細(xì)節(jié)信息，其創(chuàng)新設(shè)計(jì)的NanoVP可變壓力模式，甚至讓您在使用時(shí)擁有在高真空模式下工作的感覺

摘要 蔡司掃描電鏡GeminiSEM 450具有出色的易用性設(shè)計(jì)、更快的響應(yīng)和更高的表面靈敏度，使其能快速、靈活、可靠地對樣品進(jìn)行表面成像和分析，充當(dāng)您的得力助手