摘要 業(yè)納-用于測量輪廓的精密測量系統(tǒng)C8000提供高度精密的測量結(jié)果,并在輪廓測量中提供重復精度.數(shù)字探測系統(tǒng)與我們功能的評估軟件 相結(jié)合,可靠安全地運行-即使在測量關鍵的輪廓特性時也是如此.測量和評估流程是自動化的,可節(jié)省您的時間和資源.

摘要 日本三豐輪廓形狀表面粗糙度測量機FTA-S4C3000/4000,是一款以表面粗糙度測量機和輪廓形狀測量機為基礎的標準機型.它可分別增設粗糙度和輪廓檢出器,因此1臺即可進行需要多臺才可實現(xiàn)的測量.

摘要 安東帕微米壓痕儀 (MHT3)根據(jù)儀器化壓入測試 (IIT) 的要求,微米壓痕儀非常適合于對硬度和彈性模量等機械性能的測量.它適用于塊狀樣品和薄膜,從軟材料到硬材料（金屬、陶瓷、聚合物),可以進行大位移測量（ 1 mm）.可以根據(jù)需求添加劃痕測試模式.

摘要業(yè)納測量儀Waveline W10 非常適合用于進行移動式粗糙度測量,讓您可以在生產(chǎn)過程本身中監(jiān)測工件的表面質(zhì)量,這款實用的測量系統(tǒng)具有廣泛的功能.它在橫向探測期間以及架空位置和垂直位置中提供可靠且精密的測量.集成的粗糙度標準支持快速測試測量儀,確保始終獲得非常高的精...

摘要 業(yè)納測量儀Waveline W20無導頭型探測系統(tǒng)專為執(zhí)行移動式粗糙度測量而設計.它不僅測量所有常見的粗糙度參數(shù),而且評估工件表面的波度和總輪廓.該測量儀特別緊湊,便于攜帶.內(nèi)置電池,因此即使在沒有外部電源時也能使用.

摘要 業(yè)納測量儀Hommel-Etamic T8000 R測量系統(tǒng)用于進行專業(yè)的粗糙度和波度測量.粗糙度測量系統(tǒng)符合國際標準,可用于生產(chǎn)環(huán)境和測量室中.這些測量系統(tǒng)均采用模塊化且靈活的設計：可以根據(jù)測量任務使用不同的粗糙度探頭和探臂.

摘要 JENOPTIK業(yè)納光學三維測量機FLEX-3A是世界上的全自動三維測量機,配有三個攝像頭和一臺投影儀,結(jié)構(gòu)光投影方法可用于小型零件,無需標記目標.它改變了小型金屬,塑料或玻璃組件的快速和高精度3D數(shù)字化和檢測.

摘要 Gom光學三維掃描儀ATOS Core專用于對500毫米以下尺寸的小型部件進行三維測量.從簡單的三維掃描到全自動測量和檢測流程,它的測量頭為各種任務的實施提供最根本的支持.ATOS Core尤其適于中小型物體的三維測量,比如陶瓷型芯、鑄件或塑件等.

摘要GOM三維測量儀ATOS Capsule 是一款高精度光學測量儀器（OPMM）,它適用于成型部件幾何形狀的全場型面數(shù)字化處理.ATOS系列的條紋投影技術具有高精度的細節(jié)測量性能,適用于中小型零部件的生產(chǎn)質(zhì)量控制.ATOS Capsule可用于比如齒輪、渦輪葉片、轉(zhuǎn)輪以...

摘要 GOM三維測量儀ATOS Triple Scan是一種高分辨率光學掃描儀，可快速提供精確的三維測量數(shù)據(jù)，以優(yōu)化設計過程、改善工業(yè)生產(chǎn)流程。ATOS測量頭 這一設備被許多行業(yè)領域所采用，用于檢測比如鈑金件、工模具、渦輪葉片、原型、注塑件以及壓鑄件等零部件。

摘要 GOM三維掃描儀ATOS Compact Scan 是新一類緊致型三維光學掃描檢測儀.其構(gòu)造靈巧、簡潔，應用適應性強.ATOS Compact Scan 使三維光學測量技術的應用領域得到進一步擴展,用于三維測量、分析各式零件、模型等.

摘要 GOM 三維測量儀ATOS 5專為工業(yè)用途研發(fā)的ATOS 5帶來高精確性的資料,即使在嚴苛的環(huán)境下依然可以在短時間內(nèi)完成量測.全域的3D量測資料允許全面性的的處理與質(zhì)量控制,并將隱藏的錯誤視覺化,加速產(chǎn)品的制作流程.

摘要 SCAN 3D: 專業(yè)便攜式 3D 掃描儀具有傻瓜式彩色數(shù)據(jù)采集,一般物體可以在5分鐘或更短的時間內(nèi)完成掃描,具有專業(yè)級測量.

摘要 安東帕Revetest® 大載荷劃痕測試儀 (RST3)的特點：同步全景成像模式,曲面和粗糙表面 的測量,劃痕測量的高靈活性,自動檢測臨界載荷

摘要 業(yè)納測量儀Waveline wavemove可以直接在生產(chǎn)線執(zhí)行個別、CNC 控制、全自動的粗糙度和輪廓測量.多達 8 個獨立的 CNC 軸將工件和測量系統(tǒng)定位在所有必需的測量位置,從而確保精確測量所有必要的特性- 操作自動進行,不受任何操作員干預.

摘要TESCAN掃描電鏡VEGA3 LM是一款由計算機控制,可在高真空和低真空模式下工作全自動化鎢燈絲掃描電子顯微鏡,具有突出的光學性能,清晰的數(shù)字化圖像,成熟的操作軟件,用戶界面友好等特征.基于Windows™平臺的操作軟件提供了簡易的電鏡操作方式和完整的圖...

摘要 TESCAN掃描電鏡VEGA 3 SBU - EasyProbe是一款掃描電子顯微鏡（SEM）與X-射線能譜儀（EDS）的一體化系統(tǒng),其具有圖像質(zhì)量高,自動化程度高,操作簡單,能實時快速進行元素分析等特點.另外,可變真空模式下,用戶可以在自然狀態(tài)下觀測不導電樣品.

摘要TESCAN掃描電鏡VEGA3 SB Windows™平臺,VEGA系列的操作系統(tǒng)配置了包括中文在內(nèi)的多語種掃描電鏡操作界面（使用核心漢化操作軟件的掃描電鏡）,獲取圖片后可以用常見的標準格式存儲圖像,強化了圖片歸檔、圖像處理和測量、電鏡自動化及其他的一些自...

摘要TESCAN掃描電鏡MIRA3 GM是一款由計算機控制的場發(fā)射掃描電子顯微鏡,可在高真空和低真空模式下操作,其具有突出的光學性能,清晰的數(shù)字化圖像,成熟、用戶界面友好的操作軟件等特點.基于Windows™平臺的操作軟件提供了簡易的電鏡操作和圖像采集,可以保...

摘要TESCAN掃描電鏡MIRA3 XM是一款由計算機控制的場發(fā)射掃描電子顯微鏡,可在高真空和低真空模式下操作,其具有突出的光學性能,清晰的數(shù)字化圖像,成熟、用戶界面友好的操作軟件等特點.基于Windows™平臺的操作軟件提供了簡易的電鏡操作和圖像采集,可以保...

摘要TESCAN掃描電鏡MIRA3 LM是一款由計算機控制的場發(fā)射掃描電子顯微鏡,可在高真空和低真空模式下操作,其具有突出的光學性能,清晰的數(shù)字化圖像,成熟、用戶界面友好的操作軟件等特點.基于Windows™平臺的操作軟件提供了簡易的電鏡操作和圖像采集,可以保...

摘要TESCAN掃描電鏡Q-PHASE主要特點：無暈輪效應等圖像偽影（不同于基于Zernike相襯原理的成像技術）精準--實現(xiàn)細胞邊界的探測,有效抑制相干噪聲&寄生干擾（不同于激光干涉儀）,無需標記—樣品不需要染色，制備簡單；可在自然環(huán)境下觀察活體細胞；無光致褪色問題,極...

摘要TESCAN掃描電鏡VEGA3 GM是一款由計算機控制,可在高低真空模式下工作的全自動鎢燈絲(選配LaB6)掃描電子顯微鏡,具有突出的光學性能,清晰的數(shù)字化圖像,成熟的操作軟件,用戶界面友好等特征.基于Windows™平臺的操作軟件提供了簡易的電鏡操作方式...

摘要TESCAN掃描電鏡VEGA3 XM是一款由計算機控制,可在高低真空模式下工作的全自動鎢燈絲掃描電子顯微鏡,具有突出的光學性能,清晰的數(shù)字化圖像,成熟的操作軟件,用戶界面友好等特征.基于Windows™平臺的操作軟件提供了簡易的電鏡操作方式和完整的圖像采集...

摘要 內(nèi)置GB/ASTM/ISO/JIS/DIN定量分析標準，將全部金相定量方法分為七類：層深長度測量類、相含量測量類、晶粒度評級類、鑄鐵分析類、夾雜物評級類、有色金屬類、顆粒形態(tài)分析類。使用方便簡潔，測量準確可靠。

摘要 FEI掃描電鏡Apreo革命性的復合透鏡設計結(jié)合了靜電和磁浸沒技術,可產(chǎn)生的高分辨率和信號選擇.這使得 Apreo 成為研究納米顆粒、催化劑、粉末和納米器件的理想平臺,并且不會降低磁性樣品性能.

摘要 FEI掃描電鏡Explorer 4分析器是一種掃描電子顯微鏡,設計用作質(zhì)量控制,生產(chǎn)過程優(yōu)化,故障分析和盈利能力的工業(yè)顯微鏡解決方案.

摘要 FEI掃描電鏡Prisma E材料科學掃描電子顯微鏡（SEM）將各種成像和分析模式與新的自動化相結(jié)合,為同類儀器提供最完整的解決方案.它非常適用于需要高分辨率,樣品靈活性和易于使用的操作界面的工業(yè)研發(fā),質(zhì)量控制和故障分析應用.

摘要 FEI掃描電鏡Q25 / Q45對于失效分析、質(zhì)量控制和材料表征而言、Q25是、的高分辨成像和分析應用的解決方案.在設計上側(cè)重易用性、Q25可以讓用戶迅速得到他們所需的數(shù)據(jù).

摘要 Thermo Scientific?Quattro環(huán)境掃描電子顯微鏡（ESEM）是一款多功能，高性能儀器，配有場發(fā)射槍（FEG），具有出色的分辨率和射束電流穩(wěn)定性。

摘要TESCAN掃描電鏡LYRA3 XM是一款由計算機控制的聚焦離子束場發(fā)射掃描電子顯微鏡，可選配氣體注入系統(tǒng)(GIS),有高真空和低真空兩種模式,其具有突出的光學性能、清晰的數(shù)字化圖像、成熟、用戶界面友好的SEM/FIB/GIS操作軟件等特點.基于Windows&tra...

摘要TESCAN掃描電鏡FERA3 GM是一款由計算機控制的Xe等離子聚焦離子束（i-FIB）場發(fā)射掃描電子顯微鏡,可選配氣體注入系統(tǒng) (GIS),可在高真空和低真空模式下工作,其具有突出的光學性能、清晰的數(shù)字化圖像、成熟和用戶界面友好的SEM/FIB/GIS操作軟件等特...

摘要 桌面型掃描電子顯微鏡SEM表面分析儀IT100通過多點觸控技術和操作軟件，操作直觀簡單。只需輕觸屏幕就能操控各種功能，舒適便捷。

摘要 日本電子掃描電鏡JSM-IT300型是一款高性能，多功能，多用途的鎢燈絲掃描電鏡。性的前衛(wèi)性外觀設計還特別吸引眼球。

摘要TESCAN掃描電鏡FERA3 XM是一款由計算機全控制的Xe等離子聚焦離子束（i-FIB）場發(fā)射掃描電子顯微鏡,可選配氣體注入系統(tǒng) (GIS)，可在高真空和低真空模式下工作,其具有突出的光學性能、清晰的數(shù)字化圖像、成熟和用戶界面友好的SEM/FIB/GIS操作軟件等...

摘要IHARA R700系列反射密度計，是專為印刷行業(yè)品質(zhì)管控設計的手持式高精度測量儀器，分為彩色款（R710/R750）與黑白款（R700），可精準測量印刷品反射濃度、網(wǎng)點面積率、疊印率、色調(diào)曲線等關鍵指標，機身輕薄便攜、操作直觀，充電即可使用，滿足現(xiàn)場快速檢測與長期穩(wěn)...

摘要TESCAN掃描電鏡MAIA3 XM是一款由計算機控制的超高分辨率場發(fā)射掃描電子顯微鏡,可在高真空和低真空模式下操作,其具有突出的電子光學性能,清晰的數(shù)字化圖像,成熟、用戶界面友好的操作軟件等特點.基于Windows™平臺的操作軟件提供了簡單的電鏡操作和圖...

摘要 TESCAN掃描電鏡LYRA 3 GM是一款由計算機控制的聚焦離子束場發(fā)射掃描電子顯微鏡,可選配氣體注入系統(tǒng)(GIS),有高真空和低真空兩種模式,其具有突出的光學性能、清晰的數(shù)字化圖像、成熟、用戶界面友好的SEM/FIB/GIS操作軟件等.

摘要 Leica EM TXP 是一款多功能機械修塊研磨拋光機.適用于對目標定位,進行銑削,切割,沖鉆,研磨,修塊及拋光等.特別適合于對樣品微小目標的精細定位,切割等加工.

摘要 激光開封機RA-880用于去除塑封膠材料直到暴露出基板或引線框架,可以全部通過圖像用戶界面來控制.去除,指定位置,斜面開封均可以實現(xiàn).

摘要 美國RKD生產(chǎn)的Elite Etch是一臺自動混酸開封機,通過整合了的特點使得它可以獲得更高的產(chǎn)能.新開封機的設計通過將硝酸、硫酸或混酸精確分配到器件上,可以更加快速和容易的打開細的封裝,而不會損傷樣品.

摘要 用于半導體封裝、光通訊器件封裝、LED封裝、COB/COG工藝測試、研究所材料力學研究、材料可靠性測試等領域。是Bond工藝、SMT工藝、鍵合工藝等的動態(tài)力學檢測儀器.

摘要 用于切取銅箔、鋁箔等箔材所需的試樣,是拉伸試驗專用取樣工具.依據(jù)IPC-TM-650 標準設計.樣品尺寸152mm×12.7mm.

摘要 晶圓搬運機 AL120對應可使用FOUP（裝載口）和FOSB,適用于低成本的后期檢查.安全且符合人體工程學的設計確保了操作人員在搬送晶圓時（包括薄晶圓和變形晶圓）的效率和安全.

摘要 X射線檢查機CHEETAH/COUGAR EVO/ECO通過調(diào)整觀察角度對缺陷的水平位置及高度進行分析,能夠?qū)崿F(xiàn)精確定位.