摘要 產(chǎn)品介紹 Nexview™ NX2 光學(xué)輪廓儀是為更高應(yīng)用需求設(shè)計(jì)的，集超精密、算法、應(yīng)用靈活性和自動(dòng)化為一體，展現(xiàn)了ZYGO相干掃描干涉(CSI)技術(shù)的能力。

摘要產(chǎn)品介紹 測(cè)量動(dòng)態(tài)MEMS設(shè)備光學(xué)輪廓儀是確定MEMS設(shè)備表面特征的一 種非常有用的工具。傳統(tǒng)意義上，光學(xué)輪廓儀被用來(lái)測(cè)量樣品的表面特性。但是，在測(cè)量過(guò)程中，所測(cè)量的樣品需保持在靜止的狀態(tài)下，如果樣品不穩(wěn)定或者 處于運(yùn)動(dòng)狀態(tài)則會(huì)引起圖像混亂模糊、數(shù)據(jù)不完整或者數(shù)據(jù)丟失...

摘要 性能和成本的平衡具有較高性價(jià)比低噪數(shù)字式輪廓傳感器

摘要 SJ5800模具輪廓Ra粗糙度測(cè)量一體機(jī)采用超高精度納米衍射光學(xué)測(cè)量系統(tǒng)、超高直線度研磨級(jí)摩擦導(dǎo)軌、高性能直流伺服驅(qū)動(dòng)系統(tǒng)、高性能計(jì)算機(jī)控制系統(tǒng)技術(shù)，可以對(duì)零件表面的輪廓度、波紋度、粗糙度實(shí)現(xiàn)一次掃描測(cè)量，尤其是大范圍曲面、斜面進(jìn)行粗糙度及輪廓尺寸一次性檢測(cè)。

摘要 SuperViewW光學(xué)3D輪廓儀檢測(cè)儀以白光干涉技術(shù)為原理，針對(duì)完成樣品超光滑凹面弧形掃描所需同時(shí)滿足的高精度、大掃描范圍的需求，其復(fù)合型EPSI重建算法解決了傳統(tǒng)相移法PSI掃描范圍小、垂直法VSI精度低的雙重缺點(diǎn)。

摘要 SJ5800零件表面粗糙度輪廓儀可以對(duì)零件表面的輪廓度、波紋度、粗糙度實(shí)現(xiàn)一次掃描測(cè)量，尤其是大范圍曲面、斜面進(jìn)行粗糙度及輪廓尺寸一次性檢測(cè)，如圓弧面和球面、異型曲面進(jìn)行多種粗糙度參數(shù)（如Ra、Rz等）、微觀輪廓度Pt、波紋度參數(shù)的測(cè)量。

摘要SuperViewW光學(xué)非接觸式粗糙度3D輪廓儀采用白光干涉技術(shù)，結(jié)合具有抗噪性能的3D重建算法，具有測(cè)量精度高、功能全面、操作便捷、測(cè)量參數(shù)涵蓋面廣的優(yōu)點(diǎn)，測(cè)量單個(gè)精密器件的過(guò)程用時(shí)2分鐘以內(nèi)，確保了高款率檢測(cè)。并且其特殊光源模式，可以廣泛適用于從光滑到粗糙等各種精...

摘要SJ5800輪廓測(cè)量?jī)x凸軸粗糙度一體機(jī)采用超高精度納米衍射光學(xué)測(cè)量系統(tǒng)、超高直線度研磨級(jí)摩擦導(dǎo)軌、高性能直流伺服驅(qū)動(dòng)系統(tǒng)、高性能計(jì)算機(jī)控制系統(tǒng)技術(shù)，具有12mm~24mm的大量程粗糙度測(cè)量范圍，分辨率高達(dá)到0.1nm，系統(tǒng)殘差小于3nm。，可實(shí)現(xiàn)對(duì)軸承及工件表面粗糙度...

摘要 粗糙度輪廓儀測(cè)量原理為直角坐標(biāo)測(cè)量法，即通過(guò)X軸、Z1軸傳感器，測(cè)繪出被測(cè)零件的表面輪廓的坐標(biāo)點(diǎn)，通過(guò)電器組件，將傳感器所測(cè)量的坐標(biāo)點(diǎn)數(shù)據(jù)傳輸?shù)缴衔籔C機(jī)，軟件對(duì)所采集的原始坐標(biāo)數(shù)據(jù)進(jìn)行數(shù)學(xué)運(yùn)算處理，標(biāo)注所需的工程測(cè)量項(xiàng)目。

摘要SJ5800波紋度測(cè)量輪廓儀采用超高精度納米衍射光學(xué)測(cè)量系統(tǒng)、超高直線度研磨級(jí)摩擦導(dǎo)軌、高性能直流伺服驅(qū)動(dòng)系統(tǒng)、高性能計(jì)算機(jī)控制系統(tǒng)技術(shù)，通過(guò)軟件提供的分析工具可對(duì)輪廓及微觀輪廓進(jìn)行各種粗糙度參數(shù)、輪廓參數(shù)分析。如測(cè)W波紋度輪廓參數(shù)：Wa,Wq,Wt,Wz,Wp,Wv...

摘要 中圖儀器SuperViewW系列0.1nm分辨率白光干涉光學(xué)輪廓儀能以3D非接觸方式，測(cè)量分析樣品表面形貌的關(guān)鍵參數(shù)和尺寸，主要用于對(duì)各種精密器件及材料表面進(jìn)行亞納米級(jí)測(cè)量。

摘要中圖儀器SuperViewW光學(xué)3D輪廓儀粗糙度在線檢測(cè)設(shè)備基于白光干涉原理，結(jié)合精密Z向掃描模塊、3D 建模算法等，以3D非接觸方式測(cè)量分析樣品表面形貌的關(guān)鍵參數(shù)和尺寸?？蓮V泛應(yīng)用于半導(dǎo)體制造及封裝工藝檢測(cè)、3C電子玻璃屏及其精密配件、光學(xué)加工、微納材料及制造、汽車...

摘要 輪廓形狀測(cè)量機(jī)ContracerCV-2100系列產(chǎn)品介紹視頻主要特點(diǎn)√標(biāo)配速度范圍廣的飛梭輪

摘要SuperViewW1白光干涉微納米三維形貌一鍵測(cè)量?jī)x以白光干涉技術(shù)為原理，獲取反映器件表面質(zhì)量的2D、3D參數(shù)，從而實(shí)現(xiàn)器件表面形貌3D測(cè)量的光學(xué)檢測(cè)儀器。集合了相移法PSI的高精度和垂直法VSI的大范圍兩大優(yōu)點(diǎn)，適用于從超光滑到粗糙、平面到弧面等各種表面類型，讓3...

摘要 輪廓測(cè)量系統(tǒng) CV-2100M4

摘要 輪廓形狀測(cè)量機(jī)FORMTRACERAvantC4000系列產(chǎn)品介紹視頻主要特點(diǎn)√X軸（驅(qū)動(dòng)單元）：80mm/sZ2軸（立柱垂直移動(dòng)）：30mm/s通過(guò)提高移動(dòng)速度，可以縮短總測(cè)量時(shí)間

摘要 輪廓形狀測(cè)量機(jī)FORMTRACERAvantC3000系列主要特點(diǎn)√X軸（驅(qū)動(dòng)單元）：80mm/sZ2軸（立柱垂直移動(dòng)）：30mm/s通過(guò)提高移動(dòng)速度，可以縮短總測(cè)量時(shí)間

摘要 FTA-H4C3000

摘要 纖維測(cè)量?jī)x器用來(lái)測(cè)量單纖維在不同的試驗(yàn)參數(shù)下(例如：拉伸速度、隔距)下力學(xué)性能(模量、斷裂功和斷裂伸長(zhǎng)等)、外觀形態(tài)(纖維的形貌、直徑、長(zhǎng)度、斷裂斷形貌和斷裂過(guò)程)等，通過(guò)這些參數(shù)的測(cè)量來(lái)表征纖維材料的特征，為纖維材料的應(yīng)用和貿(mào)易過(guò)程中提供指導(dǎo)和參考的指標(biāo)。

摘要SuperViewW廣東光學(xué)3D輪廓儀表面粗糙度檢測(cè)儀器基于白光干涉原理，以3D非接觸方式，測(cè)量分析樣品表面形貌的關(guān)鍵參數(shù)和尺寸?？蓪?duì)各種產(chǎn)品、部件和材料表面的平面度、粗糙度、波紋度、面形輪廓、表面缺陷、磨損情況、腐蝕情況、孔隙間隙、臺(tái)階高度、彎曲變形情況、加工情況等...

摘要SJ5700DUAL雙向型輪廓掃描儀X軸、Z軸采用獨(dú)立運(yùn)動(dòng)系統(tǒng)，使用兩軸聯(lián)動(dòng)運(yùn)動(dòng)控制算法，可實(shí)現(xiàn)X、Z雙軸聯(lián)動(dòng)掃描，測(cè)量時(shí)測(cè)針在工件表面做仿形運(yùn)動(dòng)掃描（主動(dòng)掃描），既保持了恒測(cè)力，又保證了大的陡坡通過(guò)能力，工件調(diào)平操作簡(jiǎn)單，同時(shí)避免了崩針、掛針等問(wèn)題?？梢匀砍檀蠓秶?..

摘要 測(cè)量原理本儀器測(cè)量原理為直角坐標(biāo)測(cè)量法，即通過(guò)X軸、Z1軸傳感器，測(cè)繪出被測(cè)零件的表面輪廓的坐標(biāo)點(diǎn)，通過(guò)電器組件，將傳感器所測(cè)量的坐標(biāo)點(diǎn)數(shù)據(jù)傳輸?shù)缴衔籔C機(jī)，軟件對(duì)所采集的原始坐標(biāo)數(shù)據(jù)進(jìn)行數(shù)學(xué)運(yùn)算處理，標(biāo)注所需的工程測(cè)量項(xiàng)目

摘要 12英寸晶圓輪廓儀是為半導(dǎo)體晶圓形貌測(cè)量設(shè)計(jì)的多功能晶圓形貌儀器，集成光學(xué)傳感器,實(shí)現(xiàn)無(wú)接觸地測(cè)量樣本

摘要 這款三維表面輪廓儀是進(jìn)口的高精度多功能表面輪廓測(cè)量?jī)x器，也是一款光學(xué)輪廓儀,非常適合對(duì)表面幾何形狀和表面紋理分析，以標(biāo)準(zhǔn)方案或定制性方案對(duì)2D輪廓或三維輪廓表面形貌和表面紋理，微米和納米形狀，圓盤，圓度，球度，臺(tái)階高度，距離，面積，角度和體積進(jìn)行多范圍測(cè)量

摘要 便攜式光學(xué)輪廓儀集成光學(xué)傳感器,可在任何地方無(wú)接觸地測(cè)量樣本

摘要 中圖儀器SuperViewW多模式三維光學(xué)輪廓儀提供表征微觀形貌的粗糙度和臺(tái)階高、角度等輪廓尺寸測(cè)量功能和自動(dòng)拼接測(cè)量、定位自動(dòng)多區(qū)域測(cè)量功能。它基于白光干涉原理，以3D非接觸方式，測(cè)量分析樣品表面形貌的關(guān)鍵參數(shù)和尺寸。

摘要 中圖儀器SJ5800粗糙度輪廓形狀測(cè)量?jī)x采用超高精度納米衍射光學(xué)測(cè)量系統(tǒng)、超高直線度研磨級(jí)摩擦導(dǎo)軌、高性能直流伺服驅(qū)動(dòng)系統(tǒng)、高性能計(jì)算機(jī)控制系統(tǒng)技術(shù)，可以對(duì)零件表面的輪廓度、波紋度、粗糙度實(shí)現(xiàn)一次掃描測(cè)量，尤其是大范圍曲面、斜面進(jìn)行粗糙度及輪廓尺寸一次性檢測(cè)。

摘要 中圖儀器SuperViewW3d高倍光學(xué)輪廓儀是以白光干涉技術(shù)原理，通過(guò)測(cè)量干涉條紋的變化來(lái)測(cè)量表面三維形貌，專用于精密零部件之重點(diǎn)部位表面粗糙度、微小形貌輪廓及尺寸的非接觸式快速測(cè)量。

摘要 測(cè)量原理本儀器測(cè)量原理為直角坐標(biāo)測(cè)量法，即通過(guò)X軸、Z1軸傳感器，測(cè)繪出被測(cè)零件的表面輪廓的坐標(biāo)點(diǎn)，通過(guò)電器組件，將傳感器所測(cè)量的坐標(biāo)點(diǎn)數(shù)據(jù)傳輸?shù)缴衔籔C機(jī)，軟件對(duì)所采集的原始坐標(biāo)數(shù)據(jù)進(jìn)行數(shù)學(xué)運(yùn)算處理，標(biāo)注所需的工程測(cè)量項(xiàng)目

摘要 中圖儀器SJ5800國(guó)內(nèi)表面粗糙度輪廓儀可以對(duì)零件表面的輪廓度、波紋度、粗糙度實(shí)現(xiàn)一次掃描測(cè)量，尤其是大范圍曲面、斜面進(jìn)行粗糙度及輪廓尺寸一次性檢測(cè)，如圓弧面和球面、異型曲面進(jìn)行多種粗糙度參數(shù)（如Ra、Rz等）、微觀輪廓度Pt、波紋度參數(shù)的測(cè)量。

摘要尼康CNC影像測(cè)量?jī)xVMZ-R3020，Nikon VMZ-R Series CNC影像量測(cè)的新選擇 Nikon新開(kāi)發(fā)的高精度、高速量測(cè)及高NA的CNC影像量測(cè)儀VMZ-R Serie...

摘要中圖儀器SuperViewW1國(guó)產(chǎn)3D三維光學(xué)表面輪廓儀是利用光學(xué)干涉原理研制開(kāi)發(fā)的超精細(xì)表面輪廓測(cè)量?jī)x器。主要用于對(duì)各種精密器件及材料表面進(jìn)行亞納米級(jí)測(cè)量?？蓽y(cè)各類從超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面，從納米到微米級(jí)別工件的粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓、曲率...

摘要 SuperViewW1國(guó)產(chǎn)自研三維光學(xué)輪廓儀是一款用于對(duì)各種精密器件及材料表面進(jìn)行亞納米級(jí)測(cè)量的檢測(cè)儀器。以3D非接觸方式，測(cè)量分析樣品表面形貌的關(guān)鍵參數(shù)和尺寸。

摘要SJ5800系列接觸式高精度粗糙度輪廓儀具有12mm~24mm的大量程粗糙度測(cè)量范圍，專業(yè)測(cè)試軸承內(nèi)外側(cè)。輪廓和粗糙度一體測(cè)量，無(wú)需切換模塊?？梢詫?duì)零件表面，尤其是大范圍曲面，如圓弧面和球面、異型曲面等進(jìn)行檢測(cè)，是大曲面測(cè)量（軸承、人工關(guān)節(jié)、精密模具、齒輪、葉片、軸承...