摘要 植物分析測試

摘要 儀器名稱：納米粒度及Zeta電位分析儀型號：zeta儀器馬爾文ZS90Mastersizer3000檢測項目：Zeta電位測量

摘要 AFM校準標樣

摘要 Minitom切割設備

摘要 X-ray氮化硅薄膜窗口

摘要 GGB校準標樣

摘要 Quantifoil多孔載網(wǎng)

摘要 GGB微波探針

摘要 陣列式壓力傳感系統(tǒng)

摘要 AFM基底

摘要 氮化硅薄膜窗口

摘要 主動隔振臺AMT

摘要 X1系列數(shù)位可調干燥柜

摘要 原位AFM in SEM

摘要 Candela CS920表面缺陷檢測儀

摘要 MTA03 綜合三維納米力學操縱系統(tǒng)

摘要 LF-2000綜合原位納米操作機

摘要 6英寸納米壓印機NIL-150

摘要 脈沖激光沉積系統(tǒng)（PLD）

摘要 被動隔振臺GWA-TM

摘要 土壤分析測試+

摘要 ACCUTOM-10/-100切割設備

摘要 儀器名稱：工業(yè)分析型號：德國耐馳的馬弗爐，型號：L5/11/B180檢測項目：工業(yè)分析、水分（M）、灰分（A）、揮發(fā)分（V）和固定碳（Fc)四個分析項目應用范圍：煤炭或者其他樣品的水分灰分揮發(fā)分固定碳測試，結果準確

摘要 FT-NMT04納米力學性能測試系統(tǒng)

摘要 4200A-SCS參數(shù)分析儀

摘要 TS150 6寸手動探針臺

摘要 TS150-HP 高功率探針臺

摘要 自由曲面三維面型檢測儀

摘要 接近式光刻機

摘要 半自動晶圓鍵合儀

摘要 內(nèi)應力檢測儀

摘要 晶圓翹曲應力測量儀

摘要 棱鏡耦合儀

摘要 孔狀模板

摘要 MPI 射頻校準基板

摘要 AFM探針

摘要 MPI Titan射頻配件

摘要 光柵模板

摘要 X射線菲涅耳波帶板（FZP）

摘要 EUV/X射線反光鏡

摘要 3英寸納米壓印機 NIL75

摘要 TS300 12寸手動探針臺

摘要 LABOTOM-5/-15切割設備

摘要 納米壓印膠

摘要 徠卡多功能離子束研磨儀 Leica EM RES102