對于3C電子與光學(xué)加工行業(yè)而言，零部件表面的微小瑕疵可能導(dǎo)致嚴重的產(chǎn)品缺陷。SuperViewW白光干涉儀快速掃描玻璃表面粗糙度，評估拋光工藝質(zhì)量，是您品質(zhì)管控的得力助手。

應(yīng)用場景

1.3C電子玻璃屏

快速掃描玻璃表面，量化粗糙度數(shù)據(jù)，評估拋光工藝質(zhì)量。

2.精密模具檢測

針對手機金屬殼等模具，精準捕捉表面微小的磨損與瑕疵，提前預(yù)警，降低次品率。

3.光學(xué)元件

無論是超光滑透鏡還是微納光學(xué)結(jié)構(gòu)，W1都能提供非接觸式的高精度輪廓分析。

技術(shù)參數(shù)

1.粗糙度RMS重復(fù)性低至0.005nm，依據(jù)ISO/ASME/EUR/GBT四大國內(nèi)外標準，可提供300余種2D、3D參數(shù)作為粗糙度評價標準，滿足不同行業(yè)的檢測合規(guī)要求；

2.依托白光干涉技術(shù)與復(fù)合型EPSI重建算法，單一掃描模式即可完成各類材質(zhì)的表面粗糙度測量，搭配氣浮式隔振底座與0.1nm分辨率的環(huán)境噪聲評價功能，有效隔離外界振動干擾，定量檢測環(huán)境噪聲，確保粗糙度測量數(shù)據(jù)的高精度與穩(wěn)定性。

3.W1型號在0.1nm分辨率下掃描速度達1.85μm/s，W1-Ultra型號更提升至8μm/s，快速掃描的同時保證粗糙度測量數(shù)據(jù)無偏差，且設(shè)備可完成粗糙度數(shù)據(jù)的去噪、濾波等處理，支持多格式報表導(dǎo)出，讓粗糙度測量更高效、更專業(yè)。

SuperViewW白光干涉儀快速掃描玻璃表面粗糙度，配合自動拼接測量功能，即使是大尺寸的精密部件，也能一次性獲取完整的高精度3D數(shù)據(jù)。

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注：產(chǎn)品參數(shù)與配置以實際交付為準，中圖儀器保留根據(jù)技術(shù)升級調(diào)整相關(guān)內(nèi)容的權(quán)利，恕不另行通知。