以白光干涉光學3D測量儀為核心的3D形貌測量方案，兼具高性價比與全流程成本控制優(yōu)勢，且其與共聚焦顯微鏡組成的顯微測量產品線，能為企業(yè)提供靈活的采購選擇，從單臺適配到組合采購，降低企業(yè)檢測設備投入與使用成本！
1.白光干涉儀聚焦超光滑樣品3D形貌測量，縱向0.1nm分辨率的精度無需搭配高倍率物鏡即可實現(xiàn)，低倍下仍能保持納米級測量能力，結合大圖無縫拼接功能，大幅提升大面積樣品3D形貌檢測效率，減少人工成本；
2.設備為一站式3D形貌測量設計，可同步完成粗糙度、臺階高、輪廓尺寸等參數(shù)檢測，一臺替代多款專用納米級檢測設備，無隱形消費，標配核心部件無需額外采購。而顯微測量產品線的組合采購模式更具成本優(yōu)勢，企業(yè)可根據(jù)檢測需求，搭配選購白光干涉儀與共聚焦顯微鏡，享專屬組合采購優(yōu)惠，比單獨采購兩臺設備更劃算；
3.若企業(yè)有全場景檢測需求，直接選購顯微產品線中的WT3000二合一機型，可省去兩臺設備的采購投入，同時節(jié)省設備擺放的場地成本，且一次裝夾完成全類型樣品3D形貌測量，大幅降低人工操作與樣品調試成本。
技術參數(shù)
白光干涉光學3D測量儀以硬核技術參數(shù)鑄就超光滑樣品3D形貌測量的納米級精度，其與共聚焦顯微鏡組成的顯微測量產品線，各展技術優(yōu)勢又形成協(xié)同，二合一機型更是實現(xiàn)技術融合，成為超精密制造3D形貌全維度測量的方案！
1.白光干涉儀
· 核心基于光的干涉定位原理，搭載白光LED光源，縱向分辨率高達0.1nm，且該精度不隨物鏡倍率衰減，低倍物鏡下仍能保持納米級3D形貌測量能力，是大面積超光滑樣品檢測的核心優(yōu)勢；
· 通過Z向逐層掃描與像素點光強擬合算法，精準鎖定零級干涉條紋位置，將其轉化為相對高度數(shù)據(jù)，實現(xiàn)樣品3D形貌的高保真重構，可清晰還原Sa0.2nm級別超光滑表面的微觀形貌特征，支持大圖無縫拼接功能，輕松完成大尺寸樣品的全表面3D形貌測量，還配備自動化模塊，實現(xiàn)Mark點自動識別、位置糾偏，完成數(shù)萬個微透鏡單元的3D形貌批量檢測。
2.共聚焦顯微鏡
基于共軛共焦技術與針孔濾光設計，結合弱光信號解析算法，對低反射率樣品3D形貌測量適配性強，可測傾角達71.8°，能完整重建大陡壁復雜結構的3D形貌，配備真彩相機可輸出3D真彩形貌圖像，且無需氣浮隔振臺，抗振性強。
3.WT3000二合一機型（復合式光學3D表面輪廓儀）
將兩套光學系統(tǒng)集成于電動機座，通過5孔電動物鏡塔臺實現(xiàn)一鍵模式切換，白光模式測超光滑3D形貌，共聚焦模式測復雜結構3D形貌，一次裝夾完成全維度測量，兩款設備均為光學非接觸式無損檢測，可測3D形貌、粗糙度、臺階高等核心參數(shù)，兼容ISO/ASME等國內外檢測標準。
中圖儀器整個顯微測量儀產品線設備均為光學非接觸式設計，核心部件耐用性強，后期維修保養(yǎng)成本低，批量采購還可享定制化報價，實實在在為企業(yè)節(jié)省全生命周期檢測成本。
如需獲取產品演示視頻、行業(yè)案例手冊或精準報價，歡迎隨時聯(lián)系中圖儀器，我們將為你提供一對一專業(yè)咨詢服務！
懇請注意：因市場發(fā)展和產品開發(fā)的需要，本產品資料中有關內容可能會根據(jù)實際情況隨時更新或修改，恕不另行通知，不便之處敬請諒解。
