一臺白光干涉儀測量不同需求的表面粗糙度！選高性價比的表面粗糙度測量設(shè)備，認(rèn)準(zhǔn)中圖儀器SuperView W！這款設(shè)備聚焦表面粗糙度測量核心需求，以高性價比為企業(yè)降本采購助力：

1.無任何隱形消費，標(biāo)配包含3D輪廓儀主機、定制干涉物鏡、集成式操縱桿、品牌計算機等全套測量配置，無需額外采購基礎(chǔ)配件；

2.一臺多用，單一掃描模式即可完成不同材質(zhì)、不同精度要求的表面粗糙度測量，避免企業(yè)為不同場景單獨購置檢測設(shè)備，大幅降低初期設(shè)備投入成本。

3.設(shè)備光源、鏡頭均做了多重防護設(shè)計，減少后期損耗與維修成本，且批量采購可享專屬定制化報價，實實在在為企業(yè)節(jié)省采購與運維開支。

核心參數(shù)表現(xiàn)

1.粗糙度RMS重復(fù)性低至0.005nm，依據(jù)ISO/ASME/EUR/GBT四大國內(nèi)外標(biāo)準(zhǔn)，可提供300余種2D、3D參數(shù)作為粗糙度評價標(biāo)準(zhǔn)，滿足不同行業(yè)的檢測合規(guī)要求；

2.依托白光干涉技術(shù)與復(fù)合型EPSI重建算法，單一掃描模式即可完成各類材質(zhì)的表面粗糙度測量，搭配氣浮式隔振底座與0.1nm分辨率的環(huán)境噪聲評價功能，有效隔離外界振動干擾，定量檢測環(huán)境噪聲，確保粗糙度測量數(shù)據(jù)的高精度與穩(wěn)定性。

W1型號在0.1nm分辨率下掃描速度達1.85μm/s，W1-Ultra型號更提升至8μm/s，快速掃描的同時保證粗糙度測量數(shù)據(jù)無偏差，且設(shè)備可完成粗糙度數(shù)據(jù)的去噪、濾波等處理，支持多格式報表導(dǎo)出，讓粗糙度測量更高效、更專業(yè)。

客戶案例

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注：產(chǎn)品參數(shù)與配置以實際交付為準(zhǔn)，中圖儀器保留根據(jù)技術(shù)升級調(diào)整相關(guān)內(nèi)容的權(quán)利，恕不另行通知。