中圖儀器SuperViewW1白光干涉光學(xué)輪廓儀核心性能對標(biāo)進(jìn)口同類白光干涉儀，非接觸無損檢測、亞納米級分辨率、3D形貌重建等關(guān)鍵能力均達(dá)到行業(yè)先進(jìn)水平，可滿足GaN、Mini LED等制程的檢測需求。作為本土自主研發(fā)產(chǎn)品，省去了進(jìn)口設(shè)備的高額關(guān)稅、渠道溢價與服務(wù)加價，采購成本顯著降低；同時后期配件供應(yīng)、軟件升級、運(yùn)維服務(wù)均由原廠直供，成本透明可控，無需承擔(dān)進(jìn)口設(shè)備昂貴的運(yùn)維費(fèi)用。

用更可控的預(yù)算，搭建起行業(yè)無損檢測能力，尤其適合成長型半導(dǎo)體企業(yè)與產(chǎn)能擴(kuò)張期的產(chǎn)線部署。

全周期成本優(yōu)化 用一臺設(shè)備守住良率與耗材雙重收益

檢測設(shè)備的價值，從來不只看采購價格，更要看它能為產(chǎn)線規(guī)避多少損失、節(jié)省多少成本。中圖儀器SuperViewW1白光干涉光學(xué)輪廓儀，從多個維度幫助企業(yè)優(yōu)化檢測全周期成本。

首先是損失規(guī)避：消除探針劃傷導(dǎo)致的高價晶圓報廢，避免因檢測引入缺陷造成的材料、工時雙重浪費(fèi)，直接提升產(chǎn)線良率；其次是耗材節(jié)?。恨饤墏鹘y(tǒng)接觸式設(shè)備的易損探針耗材，無物理磨損部件，省去定期更換探針的持續(xù)支出；同時效率提升：無需制樣、無需反復(fù)對位，檢測速度更快，減少人工投入與檢測工時。

相比傳統(tǒng)方案“設(shè)備便宜但隱性成本高”的痛點(diǎn)，該方案雖然設(shè)備投入略有提升，但能為產(chǎn)線帶來數(shù)倍的良率收益與成本節(jié)約，投入回報清晰可見。

注：產(chǎn)品參數(shù)與服務(wù)可能根據(jù)技術(shù)升級實(shí)時更新，具體以新標(biāo)準(zhǔn)為準(zhǔn)，詳情可咨詢客服獲取完整資料。