從實驗室到生產(chǎn)一線——SuperView W1非接觸式白光干涉輪廓儀的4大工業(yè)落地場景。

很多白光干涉儀只能待在恒溫超凈實驗室里，樣品搬來搬去效率低，還容易引入二次污染。中圖儀器SuperView W1憑借強(qiáng)抗干擾設(shè)計，實現(xiàn)了從研發(fā)端到生產(chǎn)端的全場景覆蓋：

① 半導(dǎo)體晶圓制造——產(chǎn)線級在線抽檢

晶圓拋光后需要快速確認(rèn)表面粗糙度，傳統(tǒng)方案要送中心實驗室，周期長、影響良率迭代。SuperView W1抗振動抗氣流，可部署在車間內(nèi)就近檢測，0.1nm重復(fù)性保障數(shù)據(jù)可靠性，助力工藝快速閉環(huán)。

② 光通信器件加工——超光滑表面質(zhì)控

微透鏡陣列、光纖端面等超光滑表面，粗糙度要求達(dá)到亞納米級。車間環(huán)境的微小振動就讓普通干涉儀數(shù)據(jù)失真。SuperView W1的靶向降噪算法，確保極限生產(chǎn)現(xiàn)場也能輸出無畸變形貌特征。

③ MEMS微納結(jié)構(gòu)——封裝工序缺陷排查

MEMS器件結(jié)構(gòu)脆弱，又需要在封裝前后做形貌檢測。非接觸光學(xué)測量+抗環(huán)境干擾設(shè)計，直接在封裝線旁完成檢測，避免反復(fù)搬運損壞微結(jié)構(gòu)。

④ 精密光學(xué)透鏡——出廠全檢提效率

光學(xué)透鏡表面質(zhì)量要求嚴(yán)苛，每一片都要檢。SuperView W1支持四大標(biāo)準(zhǔn)體系（ISO/ASME/EUR/GBT），300余種形位參數(shù)一鍵輸出，質(zhì)檢報告直接導(dǎo)出，效率翻倍。

一臺設(shè)備打通研發(fā)與生產(chǎn)，數(shù)據(jù)標(biāo)準(zhǔn)統(tǒng)一，不用反復(fù)對標(biāo)校準(zhǔn)。歡迎咨詢現(xiàn)場部署方案。

SuperView W1非接觸式白光干涉輪廓儀的產(chǎn)線經(jīng)濟(jì)性：

- 抗振動抗氣流設(shè)計：普通車間就能用，省下超凈間基建費

- 國產(chǎn)化定價：同等性能比進(jìn)口低30%以上，產(chǎn)線多點部署壓力小

- 本土工程師快速響應(yīng)：現(xiàn)場問題48小時上門，減少停機(jī)損失

- 軟件免費升級：算法持續(xù)優(yōu)化，設(shè)備越用越強(qiáng)，沒有年費

注：產(chǎn)品參數(shù)與服務(wù)可能根據(jù)技術(shù)升級實時更新，具體以新標(biāo)準(zhǔn)為準(zhǔn)，詳情可咨詢客服獲取完整資料。